[实用新型]高密度开关卡

说明书

本实用新型涉及PCB测试技术领域，特别涉及高密度开关卡，双密度测试头电连接于AB30S固态继电器，AB30S固态继电器电连接于M876单片机，M876单片机通过上位机接口连接于上位机，M876单片机包括M876芯片U3和M876芯片U4，M876芯片U3和M876芯片U4分别电连接于AB30S固态继电器，双密度测试头通过接头T与AB30S固态继电器连接。与现有技术相比，本实用新型的高密度开关卡节省成本空间，简化优化电路结构，布局合理，利于提高测试效率和测试数据精度。

【技术领域】

本实用新型涉及PCB测试技术领域，特别涉及高密度开关卡。

【背景技术】

现有技术中的PCB测试板卡一般采用模拟芯片扩展电路，电路复杂，分离元件多，成本增高，布局混乱。

【实用新型内容】

为了克服上述问题，本实用新型提出一种可有效解决上述问题的高密度开关卡。

本实用新型解决上述技术问题提供的一种技术方案是：提供一种高密度开关卡，包括双密度测试头、AB30S固态继电器、M876单片机，所述双密度测试头电连接于AB30S固态继电器，AB30S固态继电器电连接于M876单片机，所述M876单片机通过上位机接口连接于上位机；所述M876单片机包括M876芯片U3和M876芯片U4，所述M876芯片U3和M876芯片U4分别电连接于AB30S固态继电器；所述双密度测试头通过接头T与AB30S固态继电器连接。

优选地，所述M876芯片U3上设置有接口A0、接口A1、接口A2、接口A3、接口A4、接口A5、接口A6、接口A7，所述AB30S固态继电器上设置有接口A01、接口A03、接口A05、接口A07、接口A09、接口A11、接口A13、接口A15，所述接口A01、接口A03、接口A05、接口A07、接口A09、接口A11、接口A13、接口A15分别连接于M876芯片U3上的接口A0、接口A1、接口A2、接口A3、接口A4、接口A5、接口A6、接口A7。

优选地，所述M876芯片U4上设置有接口A0、接口A1、接口A2、接口A3、接口A4、接口A5、接口A6、接口A7，所述AB30S固态继电器上设置有接口A02、接口A04、接口A06、接口A08、接口A10、接口A12、接口A14、接口A16，所述接口A02、接口A04、接口A06、接口A08、接口A10、接口A12、接口A14、接口A16分别连接于M876芯片U4上的接口A0、接口A1、接口A2、接口A3、接口A4、接口A5、接口A6、接口A7。

优选地，所述双密度测试头的型号为CON-32X2。

与现有技术相比，本实用新型的高密度开关卡采用M876单片机和双密度测试头，节省成本空间，简化优化电路结构，布局合理，利于提高测试效率和测试数据精度。

【附图说明】

图1为本实用新型高密度开关卡的结构框架图；

图2为本实用新型高密度开关卡的M876单片机的M876芯片U3电路原理图；

图3为本实用新型高密度开关卡的AB30S固态继电器电路原理图；

图4为本实用新型高密度开关卡的双密度测试头电路原理图。

【具体实施方式】

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施实例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用于解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

需要说明，本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅限于指定视图上的相对位置，而非绝对位置。