[实用新型]测量激光器相对强度噪声的装置

说明书

本申请公开了一种测量激光器相对强度噪声的装置，包括载物台，载物台的侧面设置有第一光学支架和第二光学支架；所述第一光学支架上设置有探针，探针的接触端位于所述载物台之上，所述探针连接有电流源；所述第二光学支架上连接有耦合光纤，所述耦合光纤的一端正对所述载物台，另一端连接光电探测器，所述光电探测器的电信号输出端连接频谱仪。上述方案，可以将未经切割与封装的激光器阵列固定在载物台，电流源通过探针来对目标激光器提供驱动电流，光电探测器根据耦合光纤耦合进来的激光器所发出的激光，产生光电流，通过该光电流进行相对强度噪声计算，以获得对应激光器的相对强度噪声。

技术领域

本实用新型一般涉及激光器噪声测量技术领域，具体涉及一种测量激光器相对强度噪声的装置。

背景技术

半导体激光器，尤其是垂直腔表面发射激光器(Vertical-Cavity SurfaceEmitting Laser；VCSEL)，在目前激光通信，数据中心光网络，高性能计算，光传感技术比如激光雷达等诸多领域有着重要的地位。而器件的特性对于其所构成的系统有着直接的影响，因此，在设计系统之前，准确地量测器件的特性变得非常重要。半导体激光二极管是通过受激辐射发光，但在此过程中，激光器增益介质的自发辐射，谐振腔共振频率，环境的温度与震动变化所产生的微扰，均会对激光器有一定的影响，使得半导体激光器输出的光强与相位等产生微小的变化，这种对光强描述的微扰变化就是激光器的相对强度噪声(Relative Intensity Noise；RIN)。相对强度噪声能够通过一定的计算得到激光器的频率响应特性，而激光器的频响特性与其所构建成的通信系统有着非常紧密的联系。因此，如何便捷的获得激光器的相对强度噪声至关重要。

实用新型内容

本实用新型期望提供一种测量激光器相对强度噪声的装置，可以对未经切割与封装的激光器阵列上进行相对强度噪声的测量。

本实用新型提供一种测量激光器相对强度噪声的装置，包括：

载物台，所述载物台的侧面设置有第一光学支架和第二光学支架；

所述第一光学支架上设置有探针，所述探针的接触端位于所述载物台之上，所述探针连接有电流源；

所述第二光学支架上连接有耦合光纤，所述耦合光纤的一端正对所述载物台，另一端连接光电探测器，所述光电探测器的电信号输出端连接频谱仪。

作为可实现方式，所述耦合光纤的另一端与所述光电探测器之间连接有隔离器。

作为可实现方式，所述光电探测器的电信号输出端与所述频谱仪之间连接有信号放大器。

作为可实现方式，所述探针为GS探针或GSG探针。

作为可实现方式，所述耦合光纤正对所述载物台的端部设置有光汇聚光学元件。

作为可实现方式，所述光汇聚光学元件包括凸透镜或汇聚光栅。

本申请提供的上述方案，可以将未经切割与封装的激光器阵列固定在载物台，电流源通过探针来对目标激光器提供驱动电流，光电探测器根据耦合光纤耦合进来的激光器所发出的激光，产生光电流，通过该光电流进行相对强度噪声计算，以获得对应激光器的相对强度噪声。在获得相对强度噪声后即可推断相应激光器的频率响应特性。

附图说明

通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

图1为本实用新型第一实施例提供的测量激光器相对强度噪声的装置的结构示意图；

图2为本实用新型实施例对耦合光纤进行位置调节时的示意图；

图3为不同驱动电流下的相对强度噪声趋势图。

具体实施方式