[实用新型]一种测量球顶尖到端面距离的检具

说明书

本实用新型公开一种测量球顶尖到端面距离的检具，包括数据显示部、测头组件、手柄、基准块和校准件，所述测头组件的顶部与所述数据显示部的测头可解除式相抵，所述基准块与所述手柄可拆卸式固定，所述手柄设置有由上至下贯穿的第一通孔，所述测头组件的上部与所述手柄限位式滑动连接，所述测头组件的下部与所述手柄弹性可解除式相抵，所述校准件的中央位置处设置有第一锥孔，所述测头组件的底部与所述校准件在所述第一锥孔对应位置处可解除式相抵。本实用新型的一种测量球顶尖到端面距离的检具结构简单、降低成本、方便维修更换、减少测量时间、实现检具轻量化和降低操作难度。

技术领域

本实用新型涉及一种测量检具技术领域，特别是涉及一种测量球顶尖到端面距离的检具。

背景技术

现有技术的测量球顶尖到端面距离的方法大多数主要还是用CMM进行测量,也就是采用三坐标测量仪进行测量，三坐标测量仪一种具有可作三个方向移动的探测器，可在三个相互垂直的导轨上移动，此探测器以接触或非接触等方式传送讯号，三个轴的位移测量系统，如光学尺等经数据处理器或计算机等计算出工件的各点坐标(X、Y、Z)及各项功能测量的仪器。三坐标测量仪的测量功能应包括尺寸精度测量、定位精度测量、几何精度测量及轮廓精度测量等。此类方法存在缺陷主要是：

1、CMM购买成本高、维护成本高、设备复杂、维修困难；

2、CMM测量效率不高，测量耗时长，CMM测量一件约10min钟，不能快速的知道工件加工尺寸是否合格，不利于工件加工时的快速调整，无法满足大批量测量；

3、使用不方便，CMM因设备体积庞大，只能固定安放在某个固定位置，且还有环境要求，测量还需从加工现场送到测量设备所放位置，造成移动浪费，且在搬运的过程中存在一定的安全风险；

4、CMM操作较复杂，对人员技能水平要求较高，需要具备一定相应的资质，且培训花费时间长。

发明内容

本实用新型是为了解决现有技术中的不足而完成的，本实用新型的目的是提供一种结构简单、降低成本、方便维修更换、减少测量时间、实现检具轻量化和降低操作难度的测量球顶尖到端面距离的检具。

本实用新型的一种测量球顶尖到端面距离的检具，包括数据显示部、测头组件、手柄、基准块和用于定标的校准件，所述测头组件的顶部与所述数据显示部的测头可解除式相抵，所述基准块套设于所述手柄的下部且与所述手柄可拆卸式固定，所述手柄的上部中心轴对应位置处设置有由上至下贯穿的第一通孔，所述测头组件的上部由下至上依次穿过所述基准块和所述第一通孔且与所述手柄限位式滑动连接，所述测头组件的下部在所述第一通孔的下方对应位置处与所述手柄弹性可解除式相抵，所述校准件的中央位置处设置有第一锥孔，所述测头组件的底部伸出所述基准块的下表面且与所述校准件在所述第一锥孔对应位置处可解除式相抵。

本实用新型的一种测量球顶尖到端面距离的检具还可以是：

所述测头组件包括球顶尖本体和导向杆，所述球顶尖本体一体成型式固定于所述导向杆的底部，所述导向杆由下至上依次穿过所述基准块和所述第一通孔且其顶部与所述数据显示部的测头可解除式相抵，所述导向杆的中部与所述手柄限位式滑动连接，所述导向杆的底部与所述手柄的底部弹性可解除式相抵，所述球顶尖本体设置于所述基准块的下方中央位置处。

所述手柄在所述第一通孔的下方对应位置处设置有第二通孔，所述测头组件的下部在所述第二通孔内与所述手柄弹性可解除式相抵。

所述第二通孔的直径大于所述第一通孔的直径，所述第二通孔的顶部和所述第一通孔的底部形成有阶梯面，所述测头组件的下部与所述阶梯面弹性可解除式相抵。

所述测头组件的下部穿设有弹簧，所述弹簧的顶部和底部分别与所述阶梯面和所述测头组件可解除式相抵。

所述手柄的中部横向可拆卸式固定有限位螺栓，所述导向杆的中部设置有长条孔，所述限位螺栓的左端在所述长条孔内与所述导向杆限位式滑动连接。