[实用新型]一种用于测量光学晶体的夹具

权利要求书

1.一种用于测量光学晶体的夹具，其特征在于，包括底座（1）、设置于所述底座（1）上可在底座（1）上转动的转台（2）、设置有所述转台上的限位块（3）以及设置于所述限位块（3）上的锁紧机构（4），所述转台（2）与所述限位块（3）之间形成用于容纳晶体的晶体室（5），所述锁紧机构（4）穿过所述限位块（3）上端用于锁紧位于所述晶体室（5）内的晶体。

2.根据权利要求1所述的用于测量光学晶体的夹具，其特征在于，所述底座（1）上设置有用于容纳转台（2）的圆弧形的限位卡槽（11）。

3.根据权利要求1所述的用于测量光学晶体的夹具，其特征在于，所述转台（2）上端面设置有用于容纳晶体的第一腔体室（51），所述限位块（3）的下端面向上凸起形成第二腔体室（52），所述第一腔体室（51）与所述第二腔体室（52）组成晶体室（5）。

4.根据权利要求1所述的用于测量光学晶体的夹具，其特征在于，所述转台（2）上设置有用于固定所述限位块（3）的凹槽（21）。

5.根据权利要求4所述的用于测量光学晶体的夹具，其特征在于，所述转台（2）与所述限位块（3）过盈配合。

6.根据权利要求1所述的用于测量光学晶体的夹具，其特征在于，所述锁紧机构（4）包括设置于所述限位块（3）顶端的螺纹孔（41）、穿过所述螺纹孔（41）的锁紧螺钉（42）。