[实用新型]一种测量大尺寸平板材料厚度的测厚仪

权利要求书

1.一种测量大尺寸平板材料厚度的测厚仪，其特征在于，所述的测厚仪包括底盘(3)、位于底盘(3)正上方的升降测尺(4)，所述的升降测尺(4)垂直于底盘(3)设置、所述的底盘(3)与升降测尺(4)之间为测量空间。

2.根据权利要求1所述的测量大尺寸平板材料厚度的测厚仪，其特征在于，还包括固定套圈(5)，所述的固定套圈(5)套接于升降测尺(4)的表面，所述的升降测尺(4)可沿固定套圈(5)上下移动。

3.根据权利要求2所述的测量大尺寸平板材料厚度的测厚仪，其特征在于，所述的固定套圈(5)上、相对应于升降测尺(4)刻度面的位置，固定有电子读数头(6)。

4.根据权利要求2所述的测量大尺寸平板材料厚度的测厚仪，其特征在于，所述的固定套圈(5)的高度小于升降测尺(4)的1/5，为1-3CM。

5.根据权利要求2所述的测量大尺寸平板材料厚度的测厚仪，其特征在于，所述的升降测尺(4)的底端为测量平面(7)，与底盘(3)平行。

6.根据权利要求1或2或3或4或5所述的测量大尺寸平板材料厚度的测厚仪，其特征在于，还包括固定架(1)，所述的底盘(3)与固定套圈(5)均固定于固定架(1)上。

7.根据权利要求6所述的测量大尺寸平板材料厚度的测厚仪，其特征在于，所述的固定架(1)上，底盘(3)面的测量深度(8)为1-1.5米。