[实用新型]一种用于柱面镜母线和半径方向的等厚测量装置有效

专利信息
申请号: 202023314614.7 申请日: 2020-12-31
公开(公告)号: CN214372278U 公开(公告)日: 2021-10-08
发明(设计)人: 张晓帆 申请(专利权)人: 南京茂莱光学科技股份有限公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 李倩
地址: 211102 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 柱面 母线 半径 方向 测量 装置
【说明书】:

实用新型公开了一种用于柱面镜母线和半径方向的等厚测量装置,包括测高装置、工装装置和辅助滑动装置;所述测高装置包括表面光滑的底座;辅助滑动装置固定安装在所述底座上;工装装置放置在底座上;工装装置外轮廓为矩形,矩形的工装装置贴靠在辅助滑动装置上做横向和纵向水平滑动。本实用新型测量装置结构简单,能够快速有效的测量柱面镜母线和半径方向等厚情况,通过简单的翻转和滑动,实现多点测量,避免频繁夹装对镜面的磨损。

技术领域

本实用新型涉及一种用于柱面镜母线和半径方向的等厚测量装置,属于光学设备加工领域。

背景技术

随着高端摄影技术的发展,应用到的光学装置也越来越多,衍射出来的柱面镜的光学精度也进一步提升,这样给光学行业提出了更多的要求和挑战,对量测产品机器的性能及参数都有所考验,尤其是双柱面镜的双侧台,系统应用的精度高了,这样镜片等厚要求也随之增加,在柱面镜开半径的过程中就要控制半径方向和母线方向的等厚差,在精磨抛光的过程中更要去控制等厚差,否然,一方面开半径等厚偏的多了,精磨抛光时就会纠正不回来,就会导两侧台的倾斜,这样会影响光学系统成像问题,半径方向等厚可以通过磨边加工来纠正回来,母线方向的等厚可以通过上盘方式来控制,但前期毛坯开半径后等厚如何量测,过程加工的等厚又是如何量测,这个时候就需要这种量测等厚的装置应运而生。

实用新型内容

实用新型目的:本实用新型所要解决的技术问题是提供一种用于柱面镜母线和半径方向的等厚测量装置,该装置结构简单,能够快速有效测量柱面镜母线和半径方向等厚情况,通过简单的翻转和滑动,实现多点测量,避免频繁夹装对镜面的磨损。

技术方案:本实用新型所述的用于柱面镜母线和半径方向的等厚测量装置,包括测高装置、工装装置和辅助滑动装置;所述测高装置包括表面光滑的底座;辅助滑动装置固定安装在所述底座上;工装装置放置在底座上;工装装置外轮廓为矩形,矩形的工装装置贴靠在辅助滑动装置上做横向和纵向水平滑动。

其中,所述测高装置底座上固定设置有支架,所述支架上固定有高度表;所述高度表包括表头,表头上设置有竖直杆,竖直杆与底座垂直设置;竖直杆底端设置有蓝宝石针头,竖直杆上还设置有把手,通过把手使竖直杆相对表头作上下移动。

其中,所述工装装置包括矩形座,矩形座上固定有平行设置的镜面支架,矩形座边沿设置有L型围挡;所述镜面支架上固定设有玻璃圆棒。

其中,所述辅助滑动装置为两条相互垂直的玻璃条,玻璃条通过胶水固定在底座上。

有益效果:本实用新型测量装置通过测高装置和简单的工装装置即可实现柱面镜母线和半径方向的等厚测量,具有结构简单、操作方便的特点;在使用过程中通过翻转和滑动操作就可实现柱面镜多点的高度测量,从而判断出母线和半径方向的等厚情况,避免的复杂的光学设备;另外,结构中的工装装置结构简单,能够较好与被测柱面镜配合,避免对镜面的损伤。

附图说明

图1为本实用新型柱面镜母线和半径方向等厚测量装置正视图;

图2为本实用新型柱面镜母线和半径方向等厚测量装置侧视图;

图3为本实用新型工装装置正视图;

图4为本实用新型工装装置俯视图;

图5为本实用新型测量原理俯视图。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例对本实用新型的技术方案做进一步说明。

如图1~5所示,本实用新型用于柱面镜母线和半径方向的等厚测量装置,包括测高装置1、工装装置2和辅助滑动装置3。测高装置1包括表面光滑的底座11,辅助滑动装置3固定安装在底座11上,工装装置2放置在底座11上并可任意滑动,工装装置2外轮廓为矩形,可贴靠在辅助滑动装置3上做横向和纵向水平滑动。

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