[实用新型]一种HEMT与嵌入式电极结构LED的单片集成器件有效

专利信息
申请号: 202023323227.X 申请日: 2020-12-31
公开(公告)号: CN214848665U 公开(公告)日: 2021-11-23
发明(设计)人: 李国强;姚书南;柴华卿;林志霆;王文樑 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: H01L33/38 分类号: H01L33/38;H01L29/778;H01L27/15;H01L21/8252
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 陈智英
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 hemt 嵌入式 电极 结构 led 单片 集成 器件
【权利要求书】:

1.一种HEMT与嵌入式电极结构LED的单片集成器件,其特征在于:从下到上依次包括衬底、金属键合层、第一钝化层、组合区域、p-GaN层、AlGaN电子阻挡层、InGaN/GaN多量子阱层、n-GaN层和第二钝化层;所述组合区域分为HEMT区和LED区,HEMT区和LED区相邻;所述HEMT区从下到上依次包括电极层、AlGaN势垒层、GaN沟道层、AlGaN背势垒层、i-GaN缓冲层;所述电极层包括源电极、栅电极和漏电极;源电极与LED区中P电极相连,源电极、栅电极和漏电极被钝化层隔开,该钝化层与第一钝化层组成整体;栅电极位于源电极和漏电极之间;所述LED区从下到上依次包括P电极、Ag反射层;P电极和Ag反射层都与p-GaN层接触,Ag反射层镶嵌在P电极中;

HEMT区中电极层设置在第一钝化层上;LED区中P电极设置在第一钝化层上;

所述器件包括N电极,N电极依次贯穿于第一钝化层、P电极、p-GaN层、AlGaN电子阻挡层、InGaN/GaN多量子阱层,N电极的两端分别延伸至金属键合层和n-GaN层的内部;N电极与P电极、p-GaN层、AlGaN电子阻挡层、InGaN/GaN多量子阱层间界面处采用钝化层隔开。

2.根据权利要求1所述HEMT与嵌入式电极结构LED的单片集成器件,其特征在于:

所述AlGaN势垒层、GaN沟道层、AlGaN背势垒层以及i-GaN层都与LED区的P电极接触;

所述N电极的表面设有钝化层,N电极的两端无钝化层,延伸至金属键合层内部的部分N电极的表面无钝化层。

3.根据权利要求1所述HEMT与嵌入式电极结构LED的单片集成器件,其特征在于:所述HEMT区还包括栅引出电极、漏引出电极,栅引出电极与栅电极相连,漏引出电极与漏电极相连;

栅引出电极和漏引出电极的上方无AlGaN势垒层、GaN沟道层、AlGaN背势垒层、i-GaN缓冲层、p-GaN层、AlGaN电子阻挡层、InGaN/GaN多量子阱层、n-GaN层和第二钝化层;栅引出电极和漏引出电极间设有钝化层;

AlGaN势垒层、GaN沟道层、AlGaN背势垒层、i-GaN缓冲层、p-GaN层、AlGaN电子阻挡层、InGaN/GaN多量子阱层、n-GaN层的侧壁上设有钝化层。

4.根据权利要求1所述HEMT与嵌入式电极结构LED的单片集成器件,其特征在于:所述n-GaN层的厚度为2-4μm,InGaN/GaN多量子阱层的厚度为50-90nm,p-GaN层的厚度为200-300nm;i-GaN缓冲层的厚度为200-300nm,AlGaN背势垒层的厚度为40-80nm,GaN沟道层的厚度为60-120nm,AlGaN势垒层的厚度为20-30nm;

所述InGaN/GaN多量子阱层的周期为5-9层。

5.根据权利要求1所述HEMT与嵌入式电极结构LED的单片集成器件,其特征在于:所述源电极、漏电极独自为Ti/Al/Ni/Au多金属层;所述栅电极为Ni/Au多金属层;所述P电极为Ni/Ag/Cr/Pt合金;

所述N电极为Cr/Al/Ti/Ni/Au合金。

6.根据权利要求1所述HEMT与嵌入式电极结构LED的单片集成器件,其特征在于:所述衬底上为1个或多个HEMT-LED单片集成器件,各器件之间被空隙隔离,即各器件之间有空隙。

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