[实用新型]一种适用于STT-MRAM的预充式比较器电路有效
申请号: | 202023332732.0 | 申请日: | 2020-12-30 |
公开(公告)号: | CN214228205U | 公开(公告)日: | 2021-09-17 |
发明(设计)人: | 刘冬生;卢楷文;李豪;严进;张聪;刘波 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学;浙江驰拓科技有限公司 |
主分类号: | H03F3/45 | 分类号: | H03F3/45 |
代理公司: | 深圳市温斯顿专利代理事务所(普通合伙) 44686 | 代理人: | 徐员兰 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 适用于 stt mram 预充式 比较 电路 | ||
本实用新型公开了一种适用于STT‑MRAM的预充式比较器电路,包括电压输入模块、负载输出模块和预充模块;所述电压输入模块用于输入差分信号;所述负载输出模块连接至所述电压输入模块和电源电压,用于输出差分信号;以及所述预充模块与所述负载输出模块并联,用于在预充阶段将差分输出信号预充至电源电压。该比较器电路通过预充电路,与灵敏放大器的预充电阶段同步,并且与灵敏放大器采用同一控制信号,从而对读出结构的整体读取时间达到协调统一,降低甚至消除了电压失调,减小传输延迟。
技术领域
本实用新型属于比较器电路设计领域,更具体地,涉及一种适用于自旋转移力矩磁性随机存储器(Spin-transfer torque Magnetic RAM, STT-MRAM)的预充式比较器电路。
背景技术
与传统的储存器,例如SRAM和DRAM相比,STT-MRAM的读写电路与传统的读写电路有所不同。其中,STT-MRAM的读电路主要由灵敏放大器和比较器组成。比较器获取灵敏放大器的读电流所对应的电压,并与参考电压进行比较,从而输出比较结果,进入存储数据。
然后现有的比较器电路失调电压较大,容易造成传输延迟,并不适合于STT-MRAM对比较器的要求。
实用新型内容
在此背景下,我们设计了一种适用于STT-MRAM的预充式比较器电路,该比较器电路通过预充电路,与灵敏放大器的预充电阶段同步,并且与灵敏放大器采用同一控制信号,从而对读出结构的整体读取时间达到协调统一,降低甚至消除了电压失调,减小传输延迟。
为实现上述目的,本实用新型设计了一种适用于STT-MRAM的预充式比较器电路,包括电压输入模块、负载输出模块和预充模块;所述电压输入模块用于输入差分信号;所述负载输出模块连接至所述电压输入模块和电源电压,用于输出差分信号;以及所述预充模块与所述负载输出模块并联,用于在预充阶段将差分输出信号预充至电源电压。
可选地,所述电压输入模块包括第一PMOS管和第二PMOS管;所述第一PMOS管和第二PMOS管的栅极分别输入差分信号;所述第一PMOS管和第二PMOS管的漏极分别连接所述负载输出模块和所述预充模块,并用作所述比较器电路的差分输出端;所述第一 PMOS管和第二PMOS管的源极接地。
可选地,所述负载输出模块包括第一NMOS管和第二NMOS管;所述第一NMOS管和第二NMOS管的漏极分别连接所述第一PMOS 管和第二PMOS管的漏极;所述第一NMOS管和第二NMOS管的源极连接电源电压;所述第一NMOS管的栅极连接所述第二NMOS管的漏极;所述第二NMOS管的栅极连接所述第一NMOS管的漏极。
可选地,所述预充模块包括第三NMOS管和第四NMOS管;所述第三NMOS管和第四NMOS管的源极连接至电源电压,所述第三 NMOS管和第四NMOS管的漏极分别连接至所述第一PMOS管和第二PMOS管的漏极,所述第三NMOS管和第四NMOS管的栅极分别连接第一控制信号和第二控制信号。
可选地,所述第一控制信号和所述第二控制信号不同。
总体而言,通过本实用新型所构思的上述技术方案,能够取得以下的有益效果:
该比较器电路通过预充电路,与灵敏放大器的预充电阶段同步,并且与灵敏放大器采用同一控制信号,从而对读出结构的整体读取时间达到协调统一,降低甚至消除了电压失调,减小传输延迟。
附图说明
图1为本实用新型实施例提供的预充式比较器电路原理图;
图2a和图2b分别为低阻态和高阻态的预充式比较器传输延迟的时间的仿真图。
具体实施方式
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