[实用新型]一种芯片图像获取装置

说明书

本实用新型提供一种芯片图像获取装置，包括芯片承载平台、若干个反射镜和摄像装置；所述芯片承载平台的上表面设有一贯穿孔；所述反射镜以一预设的角度与所述芯片承载平台的下表面固定连接；各个所述反射镜围绕所述贯穿孔设置；各个所述反射镜错位抵接，并围绕成一面积小于或等于所述贯穿孔的面积的检测区，将放置于检测区内的芯片的侧面反射至下方；所述摄像装置位于所述检测区下方。本实用新型的芯片图像获取装置可以通过一个摄像装置一次性获取芯片的多个外表面的图像，提高获取芯片图像的效率，且使用成本低。

技术领域

本实用新型涉及芯片图像获取装置的技术领域，具体涉及一种芯片图像获取装置。

背景技术

目前，对于芯片进行外观检查时，是通过对芯片的各个外表面分别进行拍摄，有的采用多个摄像头同时获取图像，但会导致获取图像成本高，有的采用单个摄像头逐一对芯片的各个外表面进行拍摄，但其获取图像的效率很低。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术中的缺点与不足，提供一种芯片图像获取装置，可以通过一个摄像装置一次性获取芯片的多个外表面的图像，提高获取芯片图像的效率，且使用成本低。

本实用新型的一个实施例提供一种芯片图像获取装置，包括：芯片承载平台、若干个反射镜和摄像装置；

所述芯片承载平台的上表面设有一贯穿孔；

各个所述反射镜以预设的角度固定在所述芯片承载平台的下表面，且各个所述反射镜错位抵接，并在所述贯穿孔的下方围绕形成一面积小于或等于所述贯穿孔的开孔截面面积的检测区，以将放置于所述检测区内的芯片的侧面反射至下方；

所述摄像装置设置在所述检测区的下方且朝向所述检测区。

相对于现有技术，本实用新型的芯片图像获取装置通过所述反射镜将放置于检测区内的芯片的侧面反射至下方，使所述摄像装置可以同时获取检测区内的芯片的下表面和侧面的图像，提高了获取芯片图像的效率，且只需要一个摄像装置，成本低。

进一步，还包括用于吸附芯片的第一芯片吸附组件，还包括用于吸附芯片的第一芯片固定组件，所述第一芯片固定组件吸附芯片，使芯片穿过所述贯穿孔并停留在所述检测区。可以灵活地将芯片移动到所述检测区中。

进一步，所述第一芯片固定组件包括水平移动部件、垂直移动部件和用于吸附芯片的吸附件；所述水平移动部件平行设置于所述芯片承载平台的上方；所述垂直移动部件的一端垂直连接于所述水平移动部件，所述吸附件与所述垂直移动部件的另一端连接。通过所述水平移动部件将所述垂直移动部件移动到所述贯穿孔的上方，通过所述垂直移动部件使所述吸附件穿过所述贯穿孔并停留在所述检测区。

进一步，还包括设置在所述检测区内的所述芯片承托座；所述芯片承托座包括透明底板和透明侧壁，所述透明侧壁围绕所述透明侧壁设置并形成的一开口向上的容置腔，所述容置腔的开口朝向所述贯穿孔，且所述容置腔的开口的边缘与所述芯片承托座连接。可用于稳定地放置芯片。

进一步，还包括安装座，所述芯片承载平台和所述摄像装置自上而下安装在所述安装座的同一侧。通过所述安装座固定所述芯片承载平台和摄像装置。

进一步，还包括第一固定件和第二固定件；所述第一固定件包括至少两个直角固定支架，所述直角固定支架的一直角边与所述芯片承载平台连接，另一直角边与所述安装座连接；所述第二固定件包括固定平板，所述固定平板设有一贯穿部，所述摄像装置通过所述贯穿部与所述第二固定件连接，所述第二固定件的一端与所述安装座连接。通过所述第一固定件使所述芯片承载平台更加稳固，通过所述第二固定件使所述摄像装置更加稳定，从而提高获取的芯片图像的准确性。

进一步，还包括灯光光源，所述灯光光源位于所述反射镜和摄像装置之间，所述灯光光源围绕所述检测区设置。利用灯光使获取的芯片的图像更加准确。

进一步，所述灯光光源围绕的区域的形状为矩形或圆形。使灯光更加均匀。