[实用新型]真空检漏仪有效

专利信息
申请号: 202023340068.4 申请日: 2020-12-31
公开(公告)号: CN213748928U 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: 丁宇彬;何晓理;朱巨丹 申请(专利权)人: 杭州芯欣科技有限公司
主分类号: G01M3/02 分类号: G01M3/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 311100 浙江省杭州市余杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 真空 检漏
【权利要求书】:

1.一种真空检漏仪,包括控制台(1)、检测室(2)、连接管(3)和真空泵(4),所述检测室(2)包括真空室(5)和密封盖(6),其特征在于:所述密封盖(6)外壁开设有环槽(8)且所述密封盖(6)上设有密封圈(7),所述密封圈(7)包括套设于密封盖(6)外的密封部(9)嵌设于环槽(8)内的连接部(10),所述连接部(10)固定连接于密封部(9),所述密封盖(6)外套设有调节套(12),所述调节套(12)朝向密封圈(7)一端呈尖端设置且嵌设于密封部(9)和密封盖(6)外壁之间,所述调节套(12)能沿密封盖(6)轴向相对密封部(9)运动;当所述密封盖(6)盖设于真空室(5)上时,所述密封圈(7)抵紧于真空室(5)内壁。

2.根据权利要求1所述的真空检漏仪,其特征在于:当所述密封盖(6)盖设于真空室(5)上时,所述调节套(12)位于密封圈(7)背离真空室(5)一端。

3.根据权利要求2所述的真空检漏仪,其特征在于:所述调节套(12)螺纹连接于密封盖(6)。

4.根据权利要求3所述的真空检漏仪,其特征在于:所述环槽(8)截面呈梯形。

5.根据权利要求4所述的真空检漏仪,其特征在于:所述密封部(9)外壁设有环形凸肋(11),所述环形凸肋(11)沿密封部(9)轴向设有若干个,且所述环形凸肋(11)与密封部(9)为一体成型。

6.根据权利要求3所述的真空检漏仪,其特征在于:所述密封盖(6)背离真空室(5)一端设有用于方便对密封盖(6)施力的第一施力环(13),所述调节套(12)背离密封圈(7)一端设有用于方便对调节套(12)施力的第二施力环(14)。

7.根据权利要求6所述的真空检漏仪,其特征在于:所述第二施力环(14)与调节套(12)连接的两点之间的连线经过调节套(12)轴线。

8.根据权利要求7所述的真空检漏仪,其特征在于:所述调节盖背离密封圈(7)一端端面沿其轴向设有螺杆(16),所述第二施力环(14)两端转动连接有螺套(15),所述螺套(15)螺纹连接于螺杆(16),所述螺套(15)和第二施力环(14)之间沿螺套(15)轴向呈固定设置。

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