[实用新型]一种保偏光纤器件的性能指标测量装置

说明书

一种保偏光纤器件的性能指标测量装置，涉及光纤通信技术领域，解决如何简单高效的测量保偏光纤器件性能指标的问题，波形发生器的第一通道与激光器的输入端连接、激光器的输出端通过第一尾纤与四端口保偏光纤器件连接；波形发生器的第二通道与相位调制器的输入端连接，相位调制器的一个输出端口通过第二尾纤与四端口保偏光纤器件连接、另一个输出端口与延时线的一端连接、延时线的另一端通过第四尾纤与四端口保偏光纤器件连接；测量仪表通过第三尾纤与四端口保偏光纤器件连接；测量装置既可以测量偏振相关损耗又可以测量调制器半波电压，只需要将其中一个装置替换就能测另一个性能指标，不需要重新搭建环境，操作简单，省时省力，稳定高效。

技术领域

本实用新型属于光纤通信技术领域，具体涉及一种保偏光纤器件的性能指标测量装置。

背景技术

偏振相关损耗(PDL)是描述无源光器件特性的一项标准指标，半波电压是表征电光调制时电压对相位差影响大小的一个非常重要的物理量。这两项指标各有各的测量方法，当前主要有两种PDL测量方法：偏振扫描法和固定态法；半波电压有三种测量方法：光通信模拟法、极值测量法和倍频调制法。也就是说当我们需要对这两项指标进行测量时需要从各自的测量方法中选择两个合适的方案搭建两个测量系统。

公开号为1988419A、公开日期为2007年06月27日的中国发明专利申请《偏振相关损耗PDL的测量方法》中公开了一种偏振相关损耗PDL的测量方法，该技术方案是令入射调制光信号进入一个双折射器件，再依次通过一个检偏器，一个PDL待测器件，最后进入一个偏振计；使偏振旋转器沿偏振轴向旋转一周，在这个过程中分别记下所出现的DOP最大值和最小值，并根据下列公式计算出器件的PDL值，计算公式如下：

虽然上述技术方案可快速有效测量单波长或多波长情况下光器件或系统中的PDL量值；但是上述技术方案不适用于对保偏光纤器件的偏振相关损耗的测量。

公开号为CN107121585A、公开日期为2017年9月1日的中国发明专利申请《一种电光相位调制器半波电压测量系统和测量方法》公开了利用分束器的一个端口、第一偏振控制器、偏振选择装置、相位调制器、第二偏振控制器和分束器的另一个端口依次连接从而构成Sagnac环结构，通过调节第一偏振控制器和第二偏振控制器使功率计输出达到最大，再通过电压源给相位调制器加载脉冲电压，调节相位调制器的调制电压，使功率计输出的示数达到最大和最小，则半波电压为最大值与最小值之差，最后利用曲线拟合测量半波电压以提高系统测量精度。然而该测量系统结构复杂，且需要调节偏振控制器以及进行曲线拟合，测量方法繁琐且易产生误差。

现有技术测量器件的偏振相关损耗需要通过普通光纤接入测量系统，调节偏振旋转器作用于普通光纤来改变入射光的偏振状态，记录入射光偏振状态的偏差值来计算得到PDL，该方法只适用于普通光纤器件，若是四端口保偏光纤器件则此方法不可测量。若是采用四态测量法则需要生成四个偏振态来测出器件的PDL，但却需要测量8个功率值才能计算出PDL，功率计的噪声和测量误差将很大程度上影响PDL的测量误差。其次，由于需要先后测量不经过和经过待测器件的功率，光源的稳定性会对测量结果产生不小的影响。

现有技术方法测量半波电压的缺点：光通信模拟法中对出现两次声音音量最小的最小值难以判断，得到的结果精度不会很高；极值测量法由于光源等因素的不稳定性，使得这种方法的测量精度有限，此外，极值法测量半波电压还会有光路光程差敏感不稳定、系统复杂、成本高、易受外界影响等缺点；倍频调制法对调节的要求很高，难以调到最佳状态。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题在于如何简单高效的测量四端口保偏光纤器件的性能指标。

本实用新型是通过以下技术方案解决上述技术问题的：