[实用新型]一种固态纳米孔基因池及固态纳米孔基因测序设备

说明书

本实用新型公开了一种固态纳米孔基因池，包括上液池、下液池、基因附着玻片及纳米孔芯片；所述纳米孔芯片设置于所述上液池底部，所述上液池的下方通孔与所述纳米孔芯片的纳米孔对应设置；所述基因附着玻片位于所述下液池中心上表面，与所述纳米孔芯片对应设置；所述基因附着玻片的上表面包括柱状高台；所述柱状高台用于固定待检测基因。本实用新型在面对所述基因附着玻片与所述纳米孔芯片的面面角时，可有效缩短所述待检测基因到所述纳米孔的距离，使所述待检测基因更容易被纳米孔附近的电场捕获，提高检测效率，同时显著增加检测中的基因有效长度。本实用新型同时还提供了一种具有上述有益效果的固态纳米孔基因测序设备。

技术领域

本实用新型涉及基因测序领域，特别是涉及一种固态纳米孔基因池及固态纳米孔基因测序设备。

背景技术

基因测序技术作为人类探索生命秘密的重要手段之一，对生物、生命科学、医学等领域的技术发展起到了巨大的推动作用。而固态纳米孔测序技术作为新兴的第四代基因测序技术，具有低成本、高读长、易集成等优势。目前的固态纳米孔基因测序技术，是通过在固态氮化硅薄膜芯片上制作出纳米级孔径，使DNA链条穿过固态纳米孔以获得DNA碱基序列。

但目前的固态纳米孔测序技术也面临很多问题，如在基因测序过程中，首先将DNA种植在基因附着玻片上(以下简称玻片)，在检测的过程中，由于玻片与纳米孔芯片(下简称芯片)的相对不平行，实际存在面面角，这样玻片面上到芯片存在最短距离，这个最短距离会随着玻片和芯片的大小和面面角的大小发生变化，换句话说，由于存在面面夹角，导致硅片一端先与玻片接触，但此时基因的生长点附近可能还未与芯片接触，而这就导致了DNA无法有效到达纳米孔附近的电场捕获半径内，导致检测效率低下，DNA有效检测长度短的问题。

综上所述，如何避免面面角引起的待检测基因与纳米孔芯片难以有效接触，进而导致检测效率低下、基因有效检测长度过短的问题，是本领域技术人员亟待解决的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种固态纳米孔基因池及固态纳米孔基因测序设备，以解决现有技术中面面角引起的待检测基因与纳米孔芯片难以有效接触，进而导致检测效率低下、基因有效检测长度过短的问题。

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种固态纳米孔基因池，包括上液池、下液池、基因附着玻片及纳米孔芯片；

所述纳米孔芯片设置于所述上液池底部，所述上液池的下方通孔与所述纳米孔芯片的纳米孔对应设置；

所述基因附着玻片位于所述下液池中心上表面，与所述纳米孔芯片对应设置；

所述基因附着玻片的上表面包括柱状高台；所述柱状高台用于固定待检测基因。

可选地，在所述的固态纳米孔基因池中，所述固态纳米孔基因池还包括补正高台；

所述补正高台设置于所述柱状高台周围，且所述补正高台高于所述柱状高台；

所述补正高台的高度与所述补正高台到所述基因附着玻片的边缘的最短距离的比值不低于接触阈值。

可选地，在所述的固态纳米孔基因池中，所述补正高台为环形高台；

所述柱状高台位于所述环形高台内部。

可选地，在所述的固态纳米孔基因池中，所述环形高台包括电解液交换口。

可选地，在所述的固态纳米孔基因池中，所述补正高台与所述柱状高台的高度差的范围为2微米至10微米，包括端点值。

可选地，在所述的固态纳米孔基因池中，所述基因附着玻片的尺寸的范围为1毫米至10毫米。

可选地，在所述的固态纳米孔基因池中，所述补正高台的高度度范围为20微米至500微米，包括端点值。