[发明专利]定位测量方法、定位测量装置及存储介质在审

专利信息
申请号: 202080001711.4 申请日: 2020-07-23
公开(公告)号: CN112136335A 公开(公告)日: 2020-12-25
发明(设计)人: 李明菊 申请(专利权)人: 北京小米移动软件有限公司
主分类号: H04W24/02 分类号: H04W24/02;H04W64/00
代理公司: 北京钲霖知识产权代理有限公司 11722 代理人: 李志新;刘亚平
地址: 100085 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 定位 测量方法 测量 装置 存储 介质
【说明书】:

本公开是关于一种定位测量方法、定位测量装置及存储介质。定位测量方法,应用于终端,包括:获取第一类型定位节点或定位管理功能实体发送的第一配置信息和第二配置信息,其中,所述第一配置信息用于指示终端传输与第一类型定位节点之间进行定位测量的第一定位信号,所述第二配置信息用于指示终端传输与第二类型定位节点之间进行定位测量的第二定位信号。通过本公开能够降低单纯基于一种类型定位节点进行定位测量的功耗影响,提高通信系统通信性能。

技术领域

本公开涉及通信技术领域,尤其涉及定位测量方法、定位测量装置及存储介质。

背景技术

随着通信技术的发展,通过无线信号进行定位测量已被应用。其中,支持定位功能的终端和无线网络设备可以更方便的对终端位置进行定位测量。

为了实现定位测量,需要终端与多个无线网络设备(例如基站/传输接收点((Transmission Reception Point,TRP))进行定位用途参考信号的传输。其中,针对下行,终端需要接收并测量多个基站/TRP发送的定位参考信号(Positioning referencesignal,PRS)。针对上行,终端需要向多个基站/TRP发送探测参考信号(SoundingReference Signal,SRS)。由于PRS和SRS占用带宽大,需要的发送功率大,故会影响终端功耗,同时定位参考信号发送的同时,其它正常通信传输不能进行,影响整个系统的正常通信。

发明内容

为克服相关技术中存在的问题,本公开提供一种定位测量方法、定位测量装置及存储介质。

根据本公开实施例的第一方面,提供一种定位测量方法,其特征在于,应用于终端,包括:

获取第一类型定位节点或定位管理功能实体发送的第一配置信息和第二配置信息,其中,所述第一配置信息用于指示终端传输与第一类型定位节点之间进行定位测量的第一定位信号,所述第二配置信息用于指示终端传输与第二类型定位节点之间进行定位测量的第二定位信号。

一种实施方式中,所述第一配置信息用于指示所述终端接收所述第一定位信号,和/或所述第二配置信息用于指示所述终端接收所述第二定位信号。

一种实施方式中,所述定位测量方法还包括:基于所述第一配置信息和所述第二配置信息,进行定位测量。

一种实施方式中,所述第一配置信息中包括所述第一类型定位节点的位置信息,所述第二配置信息中包括所述第二类型定位节点的位置信息,所述定位测量方法还包括:

确定第一测量结果和第二测量结果,所述第一测量结果对应针对所述第一定位信号进行测量的测量结果,所述第二测量结果对应针对所述第二定位信号进行测量的测量结果,所述测量结果包括信号强度测量结果、时间测量结果以及角度测量结果中的一项或多项。

一种实施方式中,所述基于所述第一配置信息和所述第二配置信息,进行定位测量,包括:

基于所述第一测量结果、所述第二测量结果、所述第一类型定位节点的位置信息以及所述第二类型定位节点的位置信息,确定终端位置。

一种实施方式中,所述第一配置信息用于指示所述终端发送所述第一定位信号,所述第二配置信息用于指示所述终端发送所述第二定位信号。

一种实施方式中,所述定位测量方法还包括:获取所述第一类型定位节点或定位管理功能实体发送的终端位置信息。

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