[发明专利]取证探测器及其系统

权利要求书

1.一种用于远程感测物体表面上的含卟啉物质的取证探测器，包括：

激发光源，其用于产生激发光束，其中所述激发光束的激发波长能够激发卟啉在以665-675nm之间波长为中心的目标波长下发光；

多个光学元件，其被配置和布置以将所述激发光束引导到所述表面上，并捕获来自所述表面的物源光束；

一个或多个传感器，其被配置以测量所述物源光束的第一波长区域的第一辐射功率，并测量其第二波长区域的一个或多个第二辐射功率，其中所述第一波长区域包括所述目标波长，并且其中所述第一和第二波长区域是不重叠的；以及

计算机处理器，其被配置以根据所述第一辐射功率和背景噪声功率水平来计算信噪比(SNR)，并根据所述SNR来确定表面上是否存在所述含卟啉物质，其中所述背景噪声功率水平是从所述一个或多个第二辐射功率获得的。

2.根据权利要求1所述的取证探测器，其中所述计算处理器还被配置以控制所述激发光源和所述一个或多个传感器，使得在产生所述激发光束并将所述激发光束引导到所述表面时，所述一个或多个传感器测量所述第一和第二辐射功率。

3.根据权利要求2所述的取证探测器，其中所述计算处理器还被配置以控制所述一个或多个传感器以同时测量所述第一和第二辐射功率。

4.根据权利要求1所述的取证探测器，其中所述激发波长在350-450nm的范围内，使得所述激发光束包含长波紫外线或蓝光。

5.根据权利要求1所述的取证探测器，其中所述光学元件包括双色镜，其位于从所述激发光源发射的所述激发光束的前向路径和来自所述物体的所述物源光束的返回路径的相交处。

6.根据权利要求5所述的取证探测器，其中所述光学元件还包括准直透镜，其位于所述双色镜和所述物体之间，用于将所述激发光束引导到所述表面上，并将所述物源光束准直到所述双色镜上。

7.根据权利要求1所述的取证探测器，其中：

所述一个或多个传感器还被配置以获得一个时间序列的第一辐射功率值，每个都是在一个时间瞬间获得的第一辐射功率的测量值；以及

所述计算机处理器还被配置以对所述时间序列的第一辐射功率值进行滤波以降低噪声。

8.根据权利要求1所述的取证探测器，其中所述SNR被计算为所述第一辐射功率除以所述第一波长区域以外区域的背景噪声功率水平的标准偏差。

9.根据权利要求1所述的取证探测器，其中所述计算机处理器还被配置以将所述SNR与阈值进行比较，所述阈值是由从具有和不具有含卟啉物质的参考物体获得的多个参考SNR来定义的。

10.根据权利要求1所述的取证探测器，其中：

所述光学元件还被布置以同时提取所述物源光束的第一和第二光分量，所述第一和第二光分量分别具有所述第一波长区域和所述第二波长区域上的波长内容；

所述光学元件还被布置以同时测量所述第一和第二辐射功率。

11.根据权利要求1所述的取证探测器，其中所述含卟啉物质在被所述激发光束激发时，显示出光致发光(PL)。