[发明专利]气溶胶计测装置及气溶胶计测方法在审
申请号: | 202080005512.0 | 申请日: | 2020-02-21 |
公开(公告)号: | CN112789496A | 公开(公告)日: | 2021-05-11 |
发明(设计)人: | 大山达史;宫下万里子 | 申请(专利权)人: | 松下知识产权经营株式会社 |
主分类号: | G01N21/49 | 分类号: | G01N21/49;G01S17/95 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 安香子 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 气溶胶 装置 方法 | ||
有关本发明的一技术方案的气溶胶计测装置,用于计测处于大气中的散射体中包含的气溶胶,具备:光源;光学元件,(i)将通过使从上述光源射出的射出光在内部干涉而产生的、具有以相互相等的频率间隔离开的多个峰值的干涉光向上述散射体照射,并且(ii)通过使由上述散射体产生的散射光在上述内部干涉而射出米氏散射光;以及受光器,接受上述米氏散射光,输出与受光强度相应的信号。
技术领域
本发明涉及气溶胶计测装置及气溶胶计测方法。
背景技术
以往,已知有利用激光雷达(LIDAR:Light Detection and Ranging)来计测大气中的气溶胶的技术。激光雷达是通过测量并解析射出到大气中的脉冲状的光的散射光来观测黄砂、花粉、灰尘或微小水滴等的悬浮在空气中的气溶胶的技术。
散射光中通常包括米氏散射(Mie scattering)光和瑞利散射(Rayleighscattering)光。米氏散射光是通过米氏散射产生的散射光,米氏散射指的是通过与射出光的波长同等以上的粒径的微粒子发生的散射现象。米氏散射光例如是来自作为计测对象物的气溶胶的散射光。瑞利散射是通过比射出光的波长小的微粒子及大气分子发生的散射现象。通过从散射光中排除瑞利散射光,能够得到米氏散射光。
例如,在专利文献1中,公开了将由单一的激光带来的散射光使用滤波器分光分离为米氏散射光和瑞利散射光的技术。此外,例如在专利文献2中,公开了利用多纵模的激光的光谱的模间隔为一定的性质,使用有选择地使与射出的激光相同的光谱间隔的光透射的干涉仪将散射光进行分光的技术。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:国际公开第2003/073127号
专利文献2:日本特许第6243088号公报
发明内容
发明要解决的课题
但是,在上述的以往技术中,在因温度变化等而激光的峰值波长变化的情况下,需要一边将光路差以激光的1波长量进行扫描一边进行调谐。因此,需要使光路差可变的构造,有装置大型化、测量方法复杂化的问题。
所以,本发明提供一种能够简单地计测气溶胶的小型的气溶胶计测装置、以及能够简单地计测气溶胶的气溶胶计测方法。
用于解决课题的手段
有关本发明的一技术方案的气溶胶计测装置,是用于计测处于大气中的散射体中包含的气溶胶的气溶胶计测装置,具备:光源;光学元件,(i)将通过使从上述光源射出的射出光在内部干涉而产生的、具有以相互相等的频率间隔离开的多个峰值的干涉光向上述散射体照射,并且(ii)通过使由上述散射体产生的散射光在上述内部干涉而射出米氏散射光;以及受光器,接受上述米氏散射光,输出与受光强度相应的信号。
此外,有关本发明的另一技术方案的气溶胶计测装置,是用于计测处于大气中的散射体中包含的气溶胶的气溶胶计测装置,具备:光源;第1光学元件,将通过使从上述光源射出的射出光在内部干涉而产生的、具有以相互相等的频率间隔离开的多个峰值的干涉光向上述散射体照射;第2光学元件,通过使由上述散射体产生的散射光在上述内部干涉,射出米氏散射光;以及受光器,接受上述米氏散射光,输出与受光强度相应的信号。
此外,有关本发明的一技术方案的气溶胶计测方法,是用于计测处于大气中的散射体中包含的气溶胶的气溶胶计测方法,包括:将通过使从光源入射的光在光学元件的内部干涉而产生的、具有以相互相等的频率间隔离开的多个峰值的干涉光向上述散射体照射;通过使由上述散射体产生的散射光在上述光学元件的上述内部干涉,从上述光学元件射出米氏散射光;以及接受上述米氏散射光,取得与受光强度相应的信号。
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