[发明专利]检测体处理系统在审
申请号: | 202080005550.6 | 申请日: | 2020-02-05 |
公开(公告)号: | CN112805569A | 公开(公告)日: | 2021-05-14 |
发明(设计)人: | 宇津木康;鬼泽邦昭 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N35/02 | 分类号: | G01N35/02 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 丁文蕴;金成哲 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 处理 系统 | ||
1.一种检测体处理系统,具备:自动分析装置,其对检测体进行分析;前处理装置,其对所述检测体实施前处理;以及输送路,其在所述自动分析装置与所述前处理装置之间、或者所述自动分析装置、所述前处理装置中,输送收纳所述检测体的检测体容器,该检测体处理系统的特征在于,
还具备单一传感器,该单一传感器以与所述检测体容器的长度方向正交的方式配置,检测所述检测体容器是否被开栓。
2.根据权利要求1所述的检测体处理系统,其特征在于,
所述传感器具有放射高频磁场的检测线圈和检测所述高频磁场的状态变化的检测电路,基于由所述检测电路检测出的状态变化,检测所述检测体容器是否被密封栓闭栓。
3.根据权利要求2所述的检测体处理系统,其特征在于,
所述检测线圈向所述检测体容器的不同高度的范围放射所述高频磁场。
4.根据权利要求3所述的检测体处理系统,其特征在于,
所述传感器还具有对所述检测线圈的外周面的至少一部分进行覆盖的屏蔽件,
放射所述高频磁场的范围通过变更所述检测线圈与所述屏蔽件的相对位置来调整。
5.根据权利要求1所述的检测体处理系统,其特征在于,
所述传感器具有:发光受光部,其产生白色光并且检测光;以及棱镜,其使所述白色光分散而生成分散光,基于所述发光受光部检测出的所述分散光的反射光,检测所述检测体容器是否被橡胶栓闭栓。
6.根据权利要求5所述的检测体处理系统,其特征在于,
所述传感器基于所述反射光的颜色,判断开栓或闭栓的所述检测体容器的高度。
7.根据权利要求5所述的检测体处理系统,其特征在于,
所述棱镜在所述检测体容器的不同高度的范围内生成所述分散光。
8.根据权利要求5所述的检测体处理系统,其特征在于,
在所述橡胶栓的侧面设置有反光材料。
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