[发明专利]用于化学分析仪的多用途采样设备在审

专利信息
申请号: 202080009008.8 申请日: 2020-01-14
公开(公告)号: CN113396325A 公开(公告)日: 2021-09-14
发明(设计)人: 汉·莱;布兰登·邱 申请(专利权)人: 维肯检测公司
主分类号: G01N1/02 分类号: G01N1/02
代理公司: 北京高沃律师事务所 11569 代理人: 李胜强
地址: 美国马塞诸*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 化学分析 多用途 采样 设备
【权利要求书】:

1.一种用于化学分析仪的采样设备,包括:

具有与痕量检测头和块体检测头联接的端部的棒延伸部;

其中,该痕量检测头包括:

用于接纳拭子支撑件并被配置成与该棒延伸部联接的主体;以及

用于将拭子联接到该痕量检测头的主体的保持器;

其中,该块体检测头包括:

用于接纳块体收集器的主体,其中,该块体收集器包括基部以及从该块体收集器的基部垂直延伸的构件。

2.如权利要求1所述的采样设备,其中,该保持器是保持环。

3.如权利要求2所述的采样设备,其中,该痕量检测头的主体具有用于接纳连接到该保持环的梭子的凹槽。

4.如权利要求3所述的采样设备,其中,磁体定位在该凹槽内,以用于与定位在该梭子内的磁体磁耦合。

5.如权利要求4所述的采样设备,其中,该凹槽具有远端磁体和近端磁体,以用于将该梭子分别固持在打开位置和关闭位置。

6.如权利要求1至5中任一项所述的采样设备,其中,该拭子支撑件包括电阻加热元件。

7.如权利要求6所述的采样设备,其中,该电阻加热元件电联接到该痕量检测头的主体上的电触点。

8.如权利要求7所述的采样设备,其中,该电触点被配置成在该痕量检测头与分析仪器配准后接触该分析仪器的电触点。

9.如权利要求1所述的采样设备,其中,该拭子支撑件具有基部,该基部具有约1cm2到约100cm2的表面积。

10.如权利要求1至5中任一项所述的采样设备,其中,从该块体收集器的基部垂直延伸的该构件进一步包括具有该电阻加热元件的基部。

11.如权利要求10所述的采样设备,其中,从该块体收集器垂直延伸的该构件的基部具有小于约1cm2的表面积。

12.如权利要求10所述的采样设备,其中,从该块体收集器垂直延伸的该构件的基部具有约0.1cm2到约1cm2的表面积。

13.如权利要求1至5中任一项所述的采样设备,其中,该痕量检测头和该块体检测头中的一个或多个是可拆卸的。

14.如权利要求13所述的采样设备,其中,该棒延伸部具有用于与该痕量检测头的配合螺纹接口联接或者与该块体检测头的配合螺纹接口联接的螺纹接口。

15.如权利要求14所述的采样设备,进一步包括用于密封该棒延伸部与该痕量检测头或该块体检测头之间的接口的O形环或垫圈。

16.一种可拆卸的痕量检测头,包括:

用于接纳拭子支撑件并被配置成与棒延伸部联接的主体;以及

用于将拭子联接到该痕量检测头的主体的保持环;

其中,该痕量检测头的主体具有用于接纳连接到该保持环的梭子的凹槽;

其中,磁体定位在该凹槽内,以用于与定位在该梭子内的磁体磁耦合。

17.如权利要求16所述的可拆卸的痕量检测头,其中,该凹槽具有远端磁体和近端磁体,以用于将该梭子分别固持在打开位置和关闭位置。

18.如权利要求16或17所述的采样设备,其中,该拭子支撑件包括电阻加热元件。

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