[发明专利]用于测量材料的料位的设备

权利要求书

1.一种用于确定限定体积内的一个或多个材料相的种类、位置或料位或者两个材料相之间的界面的位置的设备，所述设备包括：

a)线性单元阵列，所述线性单元阵列被配置为产生和检测电磁辐射；

b)细长壳体，所述细长壳体容纳所述单元阵列，所述细长壳体对于由所述单元产生的所述电磁辐射是至少部分透明的；

所述设备被配置为至少部分地浸没在所述限定体积内的所述一个或多个材料相内，其中所述线性单元阵列通过所述细长壳体与所述一种或多种材料物理隔离，

所述线性单元阵列被配置为在沿所述壳体的长度的位置处产生穿过所述至少部分透明的细长壳体到包围所述壳体的所述一个或多个材料相的传输信号，以及在沿所述壳体的所述长度的位置处穿过所述细长壳体从包围所述壳体的所述一个或多个材料相接收返回信号，

其中所述设备被配置成处理所述返回信号以确定所述限定体积内的所述一个或多个材料相的所述种类、位置或料位或两个材料相之间的界面的所述位置。

2.根据权利要求1所述的设备，其中所述壳体至少部分地由陶瓷、塑料或金属构成。

3.根据权利要求1或2所述的设备，其中所述壳体包括一个或多个窗口，所述一个或多个窗口比所述壳体的其余部分对电磁辐射更透明，所述单元被配置为穿过所述窗口发射电磁辐射和接收电磁辐射。

4.根据任一前述权利要求所述的设备，其中所述壳体为浸管。

5.根据任一前述权利要求所述的设备，其中所述设备还包括一个或多个支撑构件，所述一个或多个支撑构件在沿所述壳体的位置处将所述单元保持在所述壳体内，所述一个或多个支撑构件被配置为定位和定向所述单元以在沿所述壳体的位置处穿过所述壳体发射电磁辐射和接收电磁辐射。

6.根据任一前述权利要求所述的设备，其中所述阵列中的每个单元能够连接到信号发生器。

7.根据权利要求6所述的设备，其中所述设备包括开关以将所述阵列中的所述单元选择性地连接到所述信号发生器。

8.根据任一前述权利要求所述的设备，其中所述单元包括天线。

9.根据权利要求8所述的设备，其中所述天线包括贴片天线。

10.根据任一前述权利要求所述的设备，其中所述单元具有在1pW至7W范围内的功率。

11.根据任一前述权利要求所述的设备，所述设备还包括一个或多个温度传感器。

12.根据任一前述权利要求所述的设备，其中所述设备是模块化的，使得单元能够可拆卸地联接到所述线性单元阵列以延伸所述线性单元阵列的长度。

13.根据任一前述权利要求所述的设备，所述设备还包括数据处理器，所述数据处理器能够从每个单元接收信号并由此确定在接收所述信号的所述单元的位置处包围所述壳体的所述材料的特征。

14.根据任一前述权利要求所述的与油/水分离器容器组合提供的设备，所述设备竖直地设置在所述容器中。

15.根据任一前述权利要求所述的设备，其中所述设备为料位计。

16.一种用于确定限定体积内的一个或多个材料相的位置、种类或料位或者两个材料相之间的界面的位置的方法，所述方法包括：

a)将根据任一前述权利要求所述的设备定位在所述限定体积中的所述材料内；

b)使所述单元阵列产生电磁辐射；

c)使用所述单元阵列测量所述返回的电磁辐射；以及

d)基于所述返回的电磁辐射的测量结果来确定所述限定体积内的一种或多种材料的位置、种类或料位或者两种材料之间的界面的位置。