[发明专利]对用于金属杂质识别的天线系统进行功能检验的设备和方法

权利要求书

1.一种用于对天线系统进行功能检验的设备，所述设备包括：

-具有多个天线单元(AE0，...，AE15)的天线系统，其中包括天线(A0，...，A15)和至少一个电阻(R0，...，R15)的天线单元(AE0，...，AE15)中的每一个分别接线在选择单元(SE)的所分配的输入端(SEI0，...，SEI15)与其他选择单元(SE2)的多个输出端中的特定输出端之间；

-计算单元(CU)，所述计算单元被构造用于

在第一输出端(CUO1)处为所述选择单元(SE)和所述其他选择单元(SE2)提供控制信号(CTRL_MUX_I，CTRL_MUX_II)，其中通过所述控制信号确定出：能够将所述选择单元(SE)的哪个输入端与所述选择单元(SE)的输出端(SEO)连接以及所述其他选择单元(SE2)的输出端(SE2O0，...，SE2O3)中的哪一个输出端被加载有在所述其他选择单元(SE2)的输入端(SE2I)处施加的偏压(Vofst)，和

在所述计算单元(CU)的输入端(CUI1)处接收在所述选择单元(SE)的输出端(SEO)处施加的天线信号；

-诊断电路(DC)，所述诊断电路接线在所述选择单元(SE)的输出端(SEO)与诊断电压端子之间并且能够由所述计算单元(CU)操控，其中诊断电压(Vaux)施加在所述诊断电压端子上；

-其中所述计算单元(CU)被构造用于从在被激活的和未被激活的诊断电路情况下确定的在所述选择单元(SE)的输出端(SEO)处的天线信号的比较中推断出所述天线系统的差错。

2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述天线系统用于金属杂质识别。

3.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述诊断电路(DC)包括串联电路，所述串联电路由通过所述计算单元(CU)可控制的开关元件(S1)和诊断电阻(DR)组成。

4.根据权利要求3所述的设备，其特征在于，所述可控制的开关元件(S1)能够通过在所述计算单元(CU)的第二输出端(CUO2)处施加的用于激活或去活所述诊断电路(DC)的控制信号(CTRL_DIAG)被切换为导通的或截止的。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的设备，其特征在于，所述选择单元(SE)包括多个复用器。

6.根据权利要求5所述的设备，其特征在于，所述复用器以级联方式接线。

7.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述其他选择单元(SE2)包括解复用器，所述解复用器的输出端(SE2O0，...，SE2O3)的数量对应于所述选择单元(SE)的第一级联级的复用器的数量。

8.根据权利要求7所述的设备，其特征在于，所述其他选择单元(SE2)的各自输出端(SE2O0，...，SE2O3)经由所述天线单元与多个复用器的天线组特定的输入端(SEI0，...，SEI15)连接，其中天线组特定的输入端是所述选择单元(SE)的复用器(MUXa，...，MUXd)中的每一个复用器的具有标志的输入端，所述标志以二进数形式作为控制信号(CTRL_MUX_II)存在。

9.根据权利要求1至4中任一项所述的设备，其特征在于，每个天线单元(AE0，...，AE15)包括第一电阻，所述第一电阻串联地接线在所述天线(A0，...，A15)与所述选择单元的分配给所述天线单元(AE0，...，AE15)的输入端之间。

10.根据权利要求9所述的设备，其特征在于，每个天线单元(AE0，...，AE15)包括第二电阻(RP0，...，RP15)，所述第二电阻与由所述第一电阻和所述天线组成的串联电路并联地接线。

11.根据权利要求9所述的设备，其特征在于，与复用器(MUXa，...，MUXd)的输入端耦合的天线单元(AE0，...，AE15)的第一电阻具有至少两个不同的电阻值。