[发明专利]进行相关化学制图的系统和方法在审
申请号: | 202080011724.X | 申请日: | 2020-02-03 |
公开(公告)号: | CN113366606A | 公开(公告)日: | 2021-09-07 |
发明(设计)人: | T·R·科维;刘畅;G·J·万伯凯 | 申请(专利权)人: | DH科技发展私人贸易有限公司 |
主分类号: | H01J49/00 | 分类号: | H01J49/00;H01J49/04 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 张丹 |
地址: | 新加坡*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 进行 相关 化学 制图 系统 方法 | ||
1.一种用于化学制图的系统,包括:
光谱成像仪,其用于获得待分析材料的一个或多个物理或化学空间配准的光谱图像;
取样系统,其用于从所述待分析材料获得空间配准的样品,并将所述材料转移到对应的容器中;
样品转移单元,其用于将所述空间配准的样品或其一部分从所述容器引入质谱仪以用于分析从而产生分析质谱数据;以及
数据分析系统,其用于收集和存储所述一个或多个物理或化学光谱图像和所述分析质谱数据,
其中,所述数据分析系统还生成关于空间相关的光谱图像和分析质谱化学数据的共配准信息。
2.根据权利要求1所述的化学制图系统,还包括:
化学处理单元,其用于在转移到所述质谱仪之前处理所述容器中的所述空间配准的样品。
3.根据权利要求1或2所述的化学制图系统,其中,所述光谱成像仪选自包括以下的组:电荷耦合器件相机、光学明场显微镜、荧光显微镜、红外光谱仪、拉曼光谱仪、X射线光谱仪、轮廓曲线仪、光学成像仪及其组合。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的化学制图系统,其中,用于从所述待分析材料获得空间配准的样品并将所述材料转移到处理板的所述取样系统选自包括以下的组:激光显微切割仪器、基于管脚的取样器、基于液体萃取的取样器及其组合。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的化学制图系统,其中,所述容器是微量滴定板的孔。
6.根据权利要求2所述的化学制图系统,其中,为了处理所述容器中的所述空间配准的样品而采用的所述化学处理单元是磁珠混合器或固相萃取孔板。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的化学制图系统,其中,所述样品转移单元用于使用液滴分配器将所述空间配准的样品或其部分作为液滴从所述容器引入质谱仪以用于分析,其中,所述液滴分配器是重力输送分配器、吸管取样器、移液管、声学液滴分配器或气动液滴分配器。
8.根据权利要求7的化学制图系统,其中,来自所述液滴分配器的样品液滴使用开放端口接口(OPI)转移到所述质谱仪的电离源。
9.根据权利要求1至6中任一项所述的化学制图系统,其中,用于将空间配准的样品或其一部分从所述容器提交到质谱仪以用于分析的所述样品转移单元是自动取样器,其中,记录从其取得所述空间配准的样品的所述容器上的特定位置。
10.根据权利要求8所述的化学制图系统,其中,所述质谱仪的所述电离源选自包括以下的组:电喷雾电离、大气压化学电离、大气压光电离、电晕放电、轰击或电感耦合等离子体电离。
11.根据权利要求1至10中任一项所述的化学制图系统,其中,所述质谱仪在质谱分析之前使所述空间配准的样品经历基于环境或真空的离子迁移谱法。
12.根据权利要求1至11中任一项所述的化学制图系统,其中,所述质谱仪选自包括以下的组:四极质谱仪、多四极质谱仪、飞行时间系统质谱仪、离子阱变型质谱仪及其混合组合。
13.一种执行样品的相关化学制图的方法包括以下步骤:
获得要通过质谱学进行分析的材料的一个或多个光谱物理或化学图像;
从所述材料提取一个或多个空间配准的样品并将提取的所述空间配准的样品中的每个转移到对应容器;
将一个或多个空间配准的样品从对应容器转移到质谱仪以用于分析;
使用质谱法分析所述一个或多个空间配准的样品;
针对空间配准的样品中的每个生成分析质谱数据;以及
处理所述一个或多个光谱物理或化学图像和质谱数据,以针对空间配准的样品中的每个产生共配准的空间相关的光谱数据和分析质谱数据。
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