[发明专利]用于测量绝对位置的位置测量设备

权利要求书

1.一种用于利用具有二进制代码(1,2)的测量标准(4)和扫描所述二进制代码(1,2)的传感器设备(6)测量绝对位置的位置测量设备，其特征在于，所述传感器设备(6)被设计成扫描具有第一数量(M)的代码字(C)的第一二进制代码(1)，所述代码字(C)具有相同的代码字长度(L)，所述测量标准(4)的所述二进制代码(2)是形成可以被映射到所述第一二进制代码(1)上的、具有第二数量(m)的代码字(C)的所述第一二进制代码(1)的一部分的二进制代码(2)。

2.根据权利要求1所述的位置测量设备，其特征在于，所述第二二进制代码(2)可以通过预定的映射规则被映射到所述第一二进制代码(1)上。

3.根据前述权利要求中任一项所述的位置测量设备，其特征在于，所述二进制代码(1,2)包括唯一代码字(C)，每个代码字被分配给具有代码字长度(L)的唯一代码字位置(P_M,P_m)，所述二进制代码(1,2)在所述代码字长度(L)上延伸。

4.根据权利要求3所述的位置测量设备，其特征在于，通过映射规则(V)，所述第二二进制代码(2)的所述代码位置(P_m)可以被映射到所述第一二进制代码(1)的代码位置(P_M)上。

5.根据权利要求4所述的位置测量设备，其特征在于，所述映射在考虑到缩放因子和/或位置位移的情况下进行。

6.根据权利要求5所述的位置测量设备，其特征在于，所述缩放因子建立所述第一数量(M)的代码字(C)和所述第二数量(m)的代码字(C)之间的关系。

7.根据权利要求3至6中任一项所述的位置测量设备，其特征在于，在所述第一二进制代码(1)的部分中，所述第二二进制代码(2)的所述代码字(C)具有与所述第一二进制代码(1)的所述代码字(C)相同的序列。

8.根据前述权利要求中任一项所述的位置测量设备，其特征在于，还包括另外的处理单元(8)，用于处理所扫描的传感器信号和/或将所述代码字(C)转换为代码位置(P)。

9.根据前述权利要求中任一项所述的位置测量设备，其特征在于，通过查找表和/或通过反馈移位寄存器将所述代码字(C)转换为代码位置(P_M,P_m)。

10.根据前述权利要求中任一项所述的位置测量设备，其特征在于，具有第一数量(M)的代码字(C)的第一二进制代码(1)是完整的代码，其中出现所有可能的M＝2^L比特组合，其中所述代码字(C)具有相同的代码字长度(L)。

11.根据前述权利要求中任一项所述的位置测量设备，其特征在于，所述第一二进制代码(1)和/或所述第二二进制代码(2)是封闭代码(1)，其中，在超过最后一个代码字(C)，特别是最后一个代码位置(P_M,P_m)时，所述第一代码字(C)，特别是所述第一代码位置(P_M,P_m)，再次跟随。

12.根据前述权利要求中任一项所述的位置测量设备，其特征在于，所述测量标准(4)被设计成旋转的测量标准(4)，特别是圆盘或辊。

13.根据前述权利要求中任一项所述的位置测量设备，其特征在于，为了将所述第二二进制代码(2)映射到所述第一二进制代码(1)上，通过所述第一二进制代码(1)内的所述第二二进制代码(2)的起始值(S)和结束值(E)，或者通过所述第二数量(m)的代码字和所述第一二进制代码(1)内的所述第二二进制代码(2)的起始值(S)和结束值(E)，在所述另外的处理单元(8)中预定唯一代码位置(P)。