[发明专利]校准系统、校准装置以及程序

说明书

预先存储刺激值类型的第1测色装置(2)的识别信息、测定对象物(1)的识别信息以及由基于分光测色方式的第2测色装置(5)测定出的测定对象物的分光放射特性被关联起来组合而成的多个组合信息。在实施进行了测定对象物(1)的测定的第1测色装置(2)的校准时，根据第1测色装置(2)和测定对象物(1)的识别信息，从多个组合信息之中判别最佳的组合，根据判别出的组合中包含的分光放射特性和进行了测定的第1测色装置(2)的分光响应度，修正基于第1测色装置(2)的测定值。

技术领域

本发明涉及在进行包括至少3个彩色通道的刺激值类型的测色装置的校准时使用的校准系统、校准装置以及程序。

背景技术

如具有与等色函数近似的分光响应度的色彩亮度计那样的利用传感器接收用光学滤波器等进行了波长选择的光并将与光强度相应的刺激值作为测定值的刺激值类型的测色装置具有测定误差，该测定误差起因于利用光学滤波器、传感器的分光特性形成的测色装置的分光响应度与例如如等色函数那样的作为目标的分光响应度的差异。

因而，已知有如下技术，即，利用测色装置的分光响应度和测定对象物的分光放射特性的信息，推算如通过下述式(1)表示那样的修正测定值的系数，用该修正系数修正测定值(例如专利文献1以及专利文献2)。

P＊S＊CM1＝P＊CMF …(1)

在上述式(1)中，P表示作为目标光源的发光光谱各自的光谱值的矩阵，S表示作为测定器的滤波器的光谱灵敏度各自的光谱值的矩阵，CMF表示作为在CIE1931中规定的基准的光谱评价函数各自的光谱值的矩阵，CM1表示校准矩阵(修正系数)。

即，如图15所示，在工厂等中，用基于分光测色方式的测色装置(还称为分光测定器)对测定对象物的分光放射特性(分光数据)进行测定，并且预先测定刺激值类型的测色装置(还称为滤波器测定器)的分光响应度。然后，根据滤波器测定器的分光响应度和测定对象物的分光放射特性推算修正系数CM1，用修正系数修正基于滤波器测定器的实际的测定值，从而得到正确的测定值。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：美国专利第9163990号公报

专利文献2：日本特开2012-215570号公报

发明内容

但是，在专利文献1以及2中，未考虑对测定对象物的分光放射特性进行测定的分光测定器与使用了光学滤波器的滤波器测定器的组合。另外，测定对象物的分光放射特性还取决于测定位置、测定角度等。也就是说，针对由作为参照的测定对象物的分光放射特性、滤波器测定器以及成为误差的起因的各种参数构成的多个组合，分别存在修正系数CM1。因而，为了计算合适的修正系数CM1来进行精度高的校准，必须从多个组合之中选定最佳的组合，但在专利文献1以及2中未示出这样的想法。

并且，如果每次校准时都对测定对象物的分光放射特性、滤波器测定器的分光响应度等进行测定，根据测定结果来推算修正系数，则每当变更测定对象物、分光测定器时，必须测定分光放射特性等，效率差，校准作业会需要时间。

本发明是鉴于这样的技术背景而完成的，其目的在于提供在利用包括至少3个彩色通道的刺激值类型的测色装置对测定对象物进行测定的情况下，即使测定条件不同也能够容易地效率良好地进行精度高的校准的校准系统、校准装置以及程序。

上述目的通过以下的手段实现。