[发明专利]记录装置、读取装置、记录方法、记录程序、读取方法、读取程序及磁带有效
申请号: | 202080017785.7 | 申请日: | 2020-01-15 |
公开(公告)号: | CN113498539B | 公开(公告)日: | 2022-10-21 |
发明(设计)人: | 小泽荣贵;近藤理贵;宫本健太郎;佐野直树 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
主分类号: | G11B5/70 | 分类号: | G11B5/70;G11B5/708;G11B5/71;G11B5/735;G11B5/738;G11B5/78;G11B20/12 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 周欣 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 记录 装置 读取 方法 程序 磁带 | ||
1.一种记录装置,其具备记录部,所述记录部按每一个预定的定时执行如下处理,即:
将包含数据及与所述数据有关的元数据的多个目标记录于磁记录介质,并且
在记录了至少1个所述目标之后,记录所述目标中所包含的所述元数据的集合即第1集合数据,每一个所述第1集合数据为在之前刚刚记录完成的所述第1集合数据的记录后所记录的所述目标中所包含的所述元数据的集合,其中,
所述磁记录介质在非磁性支撑体上具有包含强磁性粉末及粘结剂的磁性层,在所述磁性层的表面上进行正己烷清洗后通过光学干涉法在0.5atm的按压下所测量的间距S0.5与在所述磁性层的表面上进行正己烷清洗后通过光学干涉法在13.5atm的按压下所测量的间距S13.5的差分S0.5-S13.5为3.0nm以下。
2.根据权利要求1所述的记录装置,其中,
所述差分为1.5nm以上且3.0nm以下。
3.根据权利要求1或2所述的记录装置,其中,
所述S0.5在5.0~50.0nm的范围内。
4.根据权利要求1或2所述的记录装置,其中,
所述磁性层包含无机氧化物系粒子。
5.根据权利要求4所述的记录装置,其中,
所述无机氧化物系粒子为无机氧化物与聚合物的复合粒子。
6.根据权利要求1或2所述的记录装置,其中,
所述磁性层包含选自由脂肪酸、脂肪酸酯及脂肪酸酰胺组成的组中的一种以上的润滑剂。
7.根据权利要求1或2所述的记录装置,其中,
在所述非磁性支撑体与所述磁性层之间,具有包含非磁性粉末及粘结剂的非磁性层。
8.根据权利要求1或2所述的记录装置,其中,
在所述非磁性支撑体的与具有所述磁性层的表面侧相反的一侧的表面侧,具有包含非磁性粉末及粘结剂的背涂层。
9.根据权利要求1或2所述的记录装置,其中,
所述磁记录介质为磁带。
10.根据权利要求1或2所述的记录装置,其中,
所述记录部在记录至少1个所述第1集合数据之后,将已记录完成的所述第1集合数据的集合即第2集合数据记录于所述磁记录介质。
11.根据权利要求10所述的记录装置,其中,
所述记录部在已记录完成于所述磁记录介质上的所述第2集合数据的尺寸为预定的尺寸以下的情况下,并且在将所述目标记录于所述磁记录介质上时,覆写到所述第2集合数据上来进行记录。
12.根据权利要求10所述的记录装置,其中,
所述磁记录介质包含参考分区及记录所述目标的数据分区,
所述记录部将所述第1集合数据及所述第2集合数据记录于所述数据分区,并且在所述数据分区中所记录的所述第2集合数据的尺寸超过预定的尺寸的情况下,将所述数据分区中所记录的所述第2集合数据记录于所述参考分区。
13.根据权利要求12项所述的记录装置,其中,
所述记录部在将所述数据分区中所记录的所述第2集合数据记录于所述参考分区的情况下,不删除所述数据分区中所记录的所述第2集合数据而记录于所述参考分区。
14.根据权利要求1或2所述的记录装置,其中,
所述元数据包含系统固有的识别信息、及包含所述元数据的目标固有的识别信息。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士胶片株式会社,未经富士胶片株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202080017785.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。