[发明专利]使用多色矩形光片对混浊样品进行分光光度测量的组件在审

专利信息
申请号: 202080017975.9 申请日: 2020-03-02
公开(公告)号: CN113508281A 公开(公告)日: 2021-10-15
发明(设计)人: 爱德华·贝罗卡尔;威廉·蔡兹;埃利亚斯·克里斯滕松;热雷米·祖埃 申请(专利权)人: 斯派克-影像公司
主分类号: G01J3/00 分类号: G01J3/00;G01N21/17;G01N21/31
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 杜诚;姚文杰
地址: 瑞典*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 使用 多色 矩形 混浊 样品 进行 分光 光度 测量 组件
【权利要求书】:

1.一种用于测量介质的一个或更多个光学参数的组件,所述组件包括:

光片生成器(110,210),其被配置成提供多色光片(192,292),所述多色光片包括在第一空间维度(101)中延伸的光谱,其中,所述多色光片具有第二空间维度(102)中的传播路径,其中,所述光片生成器(110,210)包括:光源(203),其被配置成提供白光;色散元件(204),其被配置成使所述白光在所述第一空间维度中扩散以提供所述光谱;以及光学狭缝(205),其在所述第一空间维度中延伸,所述光学狭缝被配置成通过限制扩散的白光来提供所述多色光片;

光强度调制器(130,330),其被配置成通过向所述多色光片施加强度调制来提供经强度调制的多色光片(193,193a),所述强度调制在所述第一空间维度中具有周期性图案或大致周期性图案;

保持器(145),其用于所述介质的样品(140),所述保持器被配置成使得所述经强度调制的多色光片能够照射所述样品;以及

光学传感器(161,162),其被配置成在所述光谱上记录离开所述样品的光(194,195)的强度以提供所述一个或更多个光学参数。

2.根据权利要求1所述的组件,其中,所述周期性图案从可用于所述光强度调制器的多个周期性图案(331,332)中选择,其中,周期性图案中的至少一个相对于所述周期性图案中的另一个在所述第一空间维度中相移。

3.根据权利要求1至2中任一项所述的组件,其中,所述光强度调制器(130)包括液晶显示器LCD。

4.根据权利要求1所述的组件,其中,所述色散元件(204)能够倾斜以用于改变所述多色光片的光谱的范围。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的组件,其中,所述光学传感器(161,162)被配置成记录基本上正交于所述多色光片离开所述样品的光(195)的强度和/或记录与照射相对地离开所述样品的光(194)的强度。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的组件,还包括所述多色光片沿着所述第二空间维度的传播路径中的光学反射器(150),所述光学反射器被配置成朝向所述光学传感器(162)反射与所述照射相对地离开所述样品的经强度调制的多色光片的光(194)。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的组件,其中,所述光学传感器(162)被配置成记录基本上正交于所述多色光片离开所述样品的光(195)的强度,并且所述光学传感器(162)能够配置成在记录沿着所述样品的整个宽度的光强度变化与记录沿着所述样品的宽度的一部分的光强度变化之间切换,并且其中,所述组件包括光片大小调整器(135),所述光片大小调整器(135)被配置成在所述第一空间维度中的多个可用延伸之一中提供所述经强度调制的多色光片(193,193a)。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的组件,还包括被配置成提供所述光谱的空间校准的两个或更多个可移置的单色滤光器(106)。

9.一种使用根据权利要求1至8中任一项所述的组件来测量介质的一个或更多个光学参数的方法,所述方法包括:

向保持器提供(410)所述介质的样品;

由所述组件的光片生成器和光强度调制器所提供的经强度调制的多色光片照射(415)所述样品;

由所述组件的光学传感器记录(430)与照射相对地离开所述样品的光(194)的强度和基本上正交于多色光片离开所述样品的光(195)的强度的至少一个图像;以及

基于记录的至少一个图像确定(460)所述一个或更多个光学参数。

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