[发明专利]用于确定至少一个对象的位置的检测器在审

专利信息
申请号: 202080018963.8 申请日: 2020-01-08
公开(公告)号: CN113544745A 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: M·埃伯斯帕奇;P·希伦;P·辛德勒;R·森德;C·伦纳茨;I·布鲁德 申请(专利权)人: 特里纳米克斯股份有限公司
主分类号: G06T7/80 分类号: G06T7/80;G06T7/521;G06T7/571;G06T7/593;G06T7/73
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 于静;杨晓光
地址: 德国莱茵河*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 确定 至少 一个 对象 位置 检测器
【权利要求书】:

1.一种用于确定至少一个对象(112)的位置的检测器(110),所述检测器(110)包括

-至少一个传感器元件(130),其具有光学传感器(134)的矩阵(132),每个所述光学传感器(134)具有光敏区域(136),其中,所述传感器元件(130)被配置为确定至少一个反射图像(142);

-至少一个评估设备(146),其中,所述评估设备(146)被配置为在所述反射图像(142)中的至少一个第一图像位置(148)处选择所述反射图像(142)的至少一个反射特征,其中,所述评估设备(146)被配置为通过优化至少一个模糊函数fa来确定所选反射特征的至少一个纵坐标z,其中,所述评估设备(146)被配置为在至少一个参考图像(168)中在该参考图像(168)中的与所述至少一个反射特征对应的至少一个第二图像位置(154)处确定至少一个参考特征,其中,以两个不同的空间配置来确定所述参考图像(168)和所述反射图像(142),其中,所述空间配置的不同之处在于相对空间星座,其中,所述评估设备(146)被配置为根据所述纵坐标z、所述第一图像位置(148)和所述第二图像位置(154)来确定所述相对空间星座。

2.根据前述权利要求所述的检测器(110),其中,通过使用诸如离焦深度算法的至少一种基于卷积的算法来确定所述纵坐标z。

3.根据前述权利要求中任一项所述的检测器(110),其中,通过改变所述至少一个模糊函数的参数来优化所述模糊函数。

4.根据前述权利要求所述的检测器(110),其中,所述反射图像(142)是模糊图像ib,其中,评估设备(146)被配置为根据所述模糊图像ib和所述模糊函数fa来重建所述纵坐标z。

5.根据前述权利要求所述的检测器(110),其中,通过改变所述模糊函数的参数σ来最小化所述模糊图像ib与所述模糊函数fa和其它图像i’b的卷积之间的差,从而确定所述纵坐标z,

min||(i′b*fa(σ(z))-ib)||。

6.根据前述权利要求中任一项所述的检测器(110),其中,所述至少一个模糊函数fa是由来自包括以下项的组的至少一个函数构成的函数或复合函数:高斯函数,正弦函数,抛物柱面函数,平方函数,洛伦兹函数,径向函数,多项式,Hermite多项式,Zernike多项式,Legendre多项式。

7.根据前述权利要求中任一项所述的检测器(110),其中,所述相对空间星座是选自包括以下项的组中的至少一个星座:相对空间取向;相对角度位置;相对距离;相对位移;相对移动。

8.根据前述权利要求中任一项所述的检测器(110),其中,所述检测器(110)包括被相对空间星座分离的至少两个传感器元件(130),其中,至少一个第一传感器元件(150)适于记录所述参考图像(168),并且至少一个第二传感器元件(152)适于记录所述反射图像(142)。

9.根据前述权利要求中任一项所述的检测器(110),其中,所述检测器(110)被配置为在不同时间使用相同的光学传感器(134)的矩阵(132)来记录所述反射图像(142)和所述参考图像(168)。

10.根据前述权利要求所述的检测器(110),其中,所述评估设备(146)被配置为确定用于所述相对空间星座的至少一个缩放因子。

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