[发明专利]用于确定至少一个对象的位置的检测器在审

专利信息
申请号: 202080019008.6 申请日: 2020-01-08
公开(公告)号: CN113557549A 公开(公告)日: 2021-10-26
发明(设计)人: M·埃伯斯帕奇;C·伦纳茨;R·森德;P·辛德勒;P·希伦;I·布鲁德 申请(专利权)人: 特里纳米克斯股份有限公司
主分类号: G06T7/521 分类号: G06T7/521;G06T7/571;G06T7/579
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 于静;杨晓光
地址: 德国莱茵河*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 确定 至少 一个 对象 位置 检测器
【权利要求书】:

1.一种用于确定至少一个对象(112)的位置的检测器(110),其中,所述位置是关于所述对象(112)和/或所述对象(112)的至少一部分在空间中的位置和/或取向的至少一项信息,所述检测器(110)包括:

-至少一个传感器元件(116),其具有光学传感器(120)的矩阵(118),每个所述光学传感器(120)具有光敏区域(122),其中,所述传感器元件(116)被配置为确定所述对象(112)的至少一个反射图像(126);

-至少一个评估设备(128),其中,所述评估设备(128)被配置为选择所述反射图像(126)的至少一个反射特征,其中,所述评估设备(128)被配置为通过优化至少一个模糊函数fa来确定所述反射图像(126)的所选反射特征的至少一个距离估计(130),其中,所述距离估计(130)由纵坐标z和误差区间±ε给出,

其中,所述评估设备(128)适于确定至少一个参考图像(134)中的与所述距离估计(130)对应的至少一个位移区域(132),其中,所述位移区域(130)是所述参考图像(134)中的其中与所选反射特征对应的所述参考特征被预期在所述参考图像(134)中所处的区域,其中,所述评估设备(130)适于将所选反射特征与所述位移区域(132)内的至少一个参考特征匹配。

2.根据前述权利要求所述的检测器(110),其中,通过使用诸如离焦深度算法的至少一种基于卷积的算法来确定所述距离估计(130)。

3.根据前述权利要求中任一项所述的检测器(110),其中,通过改变所述至少一个模糊函数的参数来优化所述模糊函数。

4.根据前述权利要求所述的检测器(110),其中,所述反射图像(126)是模糊图像ib,其中,所述评估设备(128)被配置为根据所述模糊图像ib和所述模糊函数fa来重建所述纵坐标z。

5.根据前述权利要求所述的检测器(110),其中,通过改变所述模糊函数的参数σ来最小化所述模糊图像ib与所述模糊函数fa和至少一个其它图像i’b的卷积之间的差,从而确定所述纵坐标z,

min||(i′b*fa(σ(z))-ib)||。

6.根据前述权利要求中任一项所述的检测器(110),其中,所述至少一个模糊函数fa是由来自包括以下项的组的至少一个函数构成的函数或复合函数:高斯函数,正弦函数,抛物柱面函数,平方函数,洛伦兹函数,径向函数,多项式,Hermite多项式,Zernike多项式,Legendre多项式。

7.根据前述权利要求中任一项所述的检测器(110),其中,所述评估设备(128)适于确定所匹配的参考特征与所选反射特征的位移,其中,所述评估设备(128)适于使用纵坐标与所述位移之间的预定关系来确定所述所匹配的特征的纵向信息。

8.根据前述权利要求中任一项所述的检测器(110),其中,所述参考图像(134)和所述反射图像(126)是在具有固定距离的不同空间位置处确定的所述对象(112)的图像,其中,所述评估设备(128)适于确定所述参考图像(134)中的对极线,其中,所述位移区域(132)沿着所述对极线延伸,其中,所述评估设备(128)适于确定沿着所述对极线与所述纵坐标z对应的所述参考特征,以及确定所述位移区域沿着所述对极线与所述误差区间±ε对应的范围。

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