[发明专利]粒子测量设备、粒子分离测量设备以及粒子分离测量装置

权利要求书

1.一种粒子测量设备，

包含在内部配置有多个流路的板状的流路设备，

所述粒子测量设备在上表面具有包含测量对象的特定的粒子的第1流体流入的第1流入口、以及不包含所述特定的粒子的第2流体流入的第2流入口，并且具有：与所述第1流入口连接从而所述第1流体通过的、用于测量所述特定的粒子的第1流路；与所述第2流入口连接从而所述第2流体通过的第2流路；以及相对于所述第1流路与所述第1流入口的连接部而被连接于平面方向的上游侧的、宽度小于所述第1流入口的第3流路，

所述第1流路具有：第1平面部，位于与所述第1流入口的连接部，且宽度大于所述第3流路的宽度以及所述第1流入口的宽度；宽度增大部，与该第1平面部的下游侧连接，且随着朝向下游侧而流路的宽度变大；和第2平面部，与该宽度增大部的下游侧连接，且宽度大于所述第1平面部的宽度。

2.根据权利要求1所述的粒子测量设备，其中，

在所述第3流路与所述第1平面部之间具有第2宽度增大部，所述第2宽度增大部随着从所述第3流路朝向所述第1平面部而流路的宽度变大。

3.一种粒子分离测量设备，具备：

板状的粒子分离设备，具有使包含作为分离对象的特定的粒子的流体流入的分离前流入口、与该分离前流入口连接的主流路、分别与该主流路连接的多个分支流路、以及包含被分离出的所述特定的粒子的第1流体流出的分离后流出口；和

权利要求1所述的粒子测量设备，具有载置该粒子分离设备的第1区域以及作为所述特定的粒子的测量区域的第2区域，

在下表面配置有所述分离后流出口的所述粒子分离设备被载置于在所述第1区域的上表面配置有所述第1流入口的所述粒子测量设备，所述分离后流出口与所述第1流入口对置而被连接。

4.根据权利要求3所述的粒子分离测量设备，其中，

所述粒子分离设备隔着片状构件被载置于所述粒子测量设备，所述分离后流出口与所述第1流入口经由所述片状构件的贯通孔而被连接。

5.根据权利要求4所述的粒子分离测量设备，其中，

所述片状构件的硬度比所述粒子分离设备的硬度高，所述粒子测量设备的硬度比该片状构件的硬度高。

6.一种粒子分离测量装置，具备：

权利要求3～5的任意一项所述的粒子分离测量设备；

光学传感器，对该粒子分离测量设备的所述第1流路以及所述第2流路分别照射光，并且对通过了所述第1流路以及所述第2流路的各个光进行受光；和

控制部，对通过该光学传感器而得到的通过了所述第1流路的光的强度以及通过了所述第2流路的光的强度进行比较，来测量所述特定的粒子。