[发明专利]用于评估转换器的热负载的方法

权利要求书

1.用于评估在运行中承受负载的半导体结构组件、特别是驱动转换器的损坏状态的方法，所述半导体结构组件包括至少一个设置在承载结构(2)上或中的半导体结构元件(1)，其中，将在半导体结构元件(1)内出现的温度(T_j)以时间序列的形式求取为高周期性负载-时间曲线，给该高周期性负载-时间曲线借助于本身已知的分析处理算法配置第一损坏特征值(LC_PC)；并且将在承载结构(2)中出现的温度(T_C)以时间序列的形式求取为低周期性负载-时间曲线，给该低周期性负载-时间曲线借助于本身已知的分析处理算法配置第二损坏特征值(LC_TC)；其特征在于，将用于识别半导体结构组件的高周期性的实际运行状态范围的第一损坏特征值(LC_PC)通过比较第一损坏特征值(LC_PC)与预定的第一参考值(LC_PC,ref)配置给用于半导体结构组件的高周期性负载的不紧要的、紧要的和过紧要的运行状态范围；并且将用于识别半导体结构组件的低周期性的实际运行状态范围的第二损坏特征值(LC_TC)通过比较第二损坏特征值(LC_TC)与预定的第二参考值(LC_TC,ref)配置给用于半导体结构组件的低周期性负载的不紧要的、紧要的和过紧要的运行状态范围；以及随后，假如不仅高周期性的而且低周期性的实际运行状态范围都相应于不紧要的运行状态范围，那么生成第一显示信号；假如高周期性的或低周期性的实际运行状态范围相应于紧要的运行状态范围且两者都不相应于过紧要的运行状态范围，那么生成第二显示信号；以及假如高周期性的或低周期性的实际运行状态范围相应于过紧要的运行状态范围，那么生成第三显示信号；其中：

-)在半导体结构组件运行期间，第一参考值(LC_PC,ref)以及第二参考值(LC_TC,ref)的时间曲线分别是预定的单调上升的函数，其在达到最大寿命时采取值1；以及

-)在转换器运行期间多次地以预定的时间间隔根据当前求取的高周期性负载-时间曲线重复求取第一损坏特征值(LC_PC)并且与第一参考值(LC_PC,ref)比较；以及

-)在转换器运行期间多次地以预定的时间间隔根据当前求取的低周期性负载-时间曲线重复求取第二损坏特征值(LC_TC)并且与第二参考值(LC_TC,ref)比较，以便分别生成对于当前负载状态的显示信号。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，假如所述损坏特征值(LC_PC,LC_TC)位于为其配置的参考值(LC_PC,ref,LC_TC,ref)的偏差范围之下，那么分别存在不紧要的运行状态范围；假如所述损坏特征值(LC_PC,LC_TC)位于为其配置的参考值(LC_PC,ref,LC_TC,ref)的偏差范围内，那么分别存在紧要的运行状态范围；以及假如所述损坏特征值(LC_PC,LC_TC)位于为其配置的参考值(LC_PC,ref,LC_TC,ref)的偏差范围之上，那么分别存在过紧要的运行状态范围。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述参考值(LC_PC,ref,LC_TC,ref)的偏差范围位于所述参考值(LC_PC,ref,LC_TC,ref)的80-100％的值范围中。