[发明专利]预测性维护的方法和易损件在审
申请号: | 202080023727.5 | 申请日: | 2020-01-28 |
公开(公告)号: | CN113614504A | 公开(公告)日: | 2021-11-05 |
发明(设计)人: | A·基亚;M·蒂托夫 | 申请(专利权)人: | 聚四氟乙烯工程股份公司 |
主分类号: | G01M5/00 | 分类号: | G01M5/00;F16D66/02;G01M11/08;G01N17/00 |
代理公司: | 上海弼兴律师事务所 31283 | 代理人: | 王卫彬;徐婕超 |
地址: | 丹麦*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 预测 维护 方法 易损 | ||
1.一种检测易损件过度磨损的方法,
所述易损件:
a)主要由滑动层组成,或至少部分地由滑动层覆盖,所述滑动层主要由聚合物材料组成,例如聚四氟乙烯(PTFE)、聚三氟氯乙烯(PCTFE)、全氟烷氧基(PFA)、四氟乙烯-全氟丙烷(FEP)、ETFE、FEP、LCP、三氟氯乙烯(E-CTFE)、PE、PEEK、PET、PVDF、THV和/或类似物,以及
b)包括一根或多根光纤,所述光纤安装在所述聚合物材料中、嵌入所述聚合物材料中、缩进所述聚合物材料中或与所述聚合物材料熔接,其中:
-至少一根第一光纤在其近端连接到近端光检测装置,所述近端光检测装置包括第一元件,当光从发光装置发射到所述至少一根第一光纤的近端时,所述第一元件发射可见光,及
-至少一根光纤,可选地为所述第一光纤,在其远端连接到远端光检测装置,所述远端光检测装置包括第二元件,当从所述发光装置发射到所述至少一根第一光纤的所述近端的光从所述光纤的远端发射时,可选地为所述第一光纤,所述第二元件发射可见光,
且所述易损件和所述一根或多根光纤的特征还在于,
c)从所述发光装置发射到所述至少一根第一光纤的所述近端中的光,当从所述光纤的远端发射时,可选地为所述第一光纤,已经基本上沿着所述易损件的整个圆周行进,或已经基本上横穿所述易损件的整个长度通过所述一根或多根光纤,及
d)所述光沿着所述易损件的所述基本整个圆周行进的距离,或者当所述光横穿所述易损件的所述基本整个长度,在所述至少一根第一光纤的所述近端和所述光纤的所述远端,可选地为所述第一光纤,之间行进的距离,至少为500毫米,
并且,所述方法至少包括以下步骤:
-打开所述发光装置,
-检查所述近端光检测装置和所述远端光检测装置是否发射可见光,以及
-如果所述近端光检测装置和所述远端光检测装置均发射可见光,则得出所述易损件没有受到过度磨损的结论。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述发光装置为激光装置。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,至少一个所述光检测装置包括由半透明材料制成的透镜。
4.根据权利要求1、2或3中任一项所述的方法,其特征在于,至少一个所述光检测装置发出的任何可见光的存在和/或不存在由光电传感器进行检测,并将其相关信息存储为过程控制系统(DCS)的组成部分。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的方法,其特征在于,所述一根或多根光纤通过分路器或反射器互连。
6.根据权利要求1-5中任一项所述的方法,其特征在于,所述易损件为密封件。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,安装在所述密封件中,并嵌入在所述密封件中的一根或多根所述光纤本身环绕所述密封件的圆周。
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