[发明专利]具备压电元件的劣化检测电路的驱动装置以及劣化检测方法在审
申请号: | 202080025996.5 | 申请日: | 2020-04-20 |
公开(公告)号: | CN113647008A | 公开(公告)日: | 2021-11-12 |
发明(设计)人: | 日高敦志;杉田胜幸;中谷贵纪;西野功二;池田信一 | 申请(专利权)人: | 株式会社富士金 |
主分类号: | H02N2/06 | 分类号: | H02N2/06;G01N27/00;H01L41/04 |
代理公司: | 北京五洲洋和知识产权代理事务所(普通合伙) 11387 | 代理人: | 刘春成;刘春燕 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具备 压电 元件 检测 电路 驱动 装置 以及 方法 | ||
1.一种驱动装置,其特征在于,具备:
压电元件;
第一电阻,所述第一电阻串联连接于所述压电元件;
电压供给部,所述电压供给部向由所述压电元件以及所述第一电阻所形成的串联连接电路的两端供给直流电压;
测定部,所述测定部测定所述第一电阻的电压;以及
控制部,所述控制部控制所述电压供给部以及所述测定部,
所述第一电阻的电阻值比所述压电元件的绝缘电阻值小,
所述测定部在从所述电压供给部供给规定电压的状态下,测定所述第一电阻的电压,
所述控制部根据通过所述测定部的测定而得到的电压值,计算所述压电元件的电阻值,
基于所计算出的所述电阻值,判定所述压电元件是否发生了劣化。
2.根据权利要求1所记载的驱动装置,其特征在于,
所述测定部在从所述电压供给部供给所述规定电压的状态下,多次测定所述第一电阻的电压,
所述控制部根据通过多次测定而得到的多个电压值的每一个而计算所述压电元件的电阻值,
计算所计算出的所述压电元件的多个所述电阻值的代表值,
通过将所述代表值与规定的阈值进行比较,判定所述压电元件是否发生了劣化。
3.根据权利要求1所述的驱动装置,其特征在于,
所述测定部在从所述电压供给部供给所述规定电压的状态下,多次测定所述第一电阻的电压,
所述控制部重复进行:根据通过多次测定而得到的多个电压值的每一个而计算所述压电元件的电阻值的处理,和计算所计算出的所述压电元件的多个所述电阻值的代表值的处理,
计算所计算出的多个所述代表值的斜率,
通过将所述斜率与规定的阈值进行比较,判定所述压电元件是否发生了劣化。
4.根据权利要求1至3中任一项所记载的驱动装置,其特征在于,
所述测定部依据所述压电元件被初始施加电压后经过了规定时间的情况,判定所述压电元件是否发生了劣化。
5.根据权利要求1至3中任一项所记载的驱动装置,其特征在于,
所述驱动装置具有通过所述压电元件对阀加以开闭的机构,
所述测定部依据所述阀的开闭次数超过规定次数的情况,判定所述压电元件是否发生了劣化。
6.根据权利要求1至5中任一项所记载的驱动装置,其特征在于,
进一步具备第二电阻,
所述第二电阻串联连接于所述压电元件以及所述第一电阻,
所述第二电阻连接于所述电压供给部的正极侧的端子与所述第一电阻之间,
所述第二电阻的电阻值比所述压电元件的绝缘电阻值小,而比所述第一电阻的电阻值大。
7.一种劣化检测方法,是具备压电元件、串联连接于所述压电元件的第一电阻、供给直流电压的电压供给部以及测定电压的测定部的驱动装置的所述压电元件的劣化检测方法,其特征在于,包含:
通过所述电压供给部,向由所述压电元件以及所述第一电阻所形成的串联连接电路的两端供给规定的直流电压的步骤;
在供给所述规定的直流电压的状态下,通过所述测定部测定所述第一电阻的电压的测定步骤;
根据通过所述测定步骤而得到的电压值计算所述压电元件的电阻值的计算步骤;以及
基于通过所述计算步骤所计算出的所述电阻值,判定所述压电元件是否发生了劣化的步骤。
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