[发明专利]用于X射线校准的X射线波纹标记物

权利要求书

1.一种C型臂配准系统，包括：

X射线波纹标记物(20)，其包括从所述X射线波纹标记物(20)的固定点(40)径向延伸的波纹图案(50)；以及

C型臂配准控制器(70)，其被配置为：

识别X射线图像内的波纹图案(50)，所述X射线图像是从C型臂(60)的X射线投影生成的并且图示所述波纹图案(50)的至少部分，

其中，对所述X射线图像内的所述波纹图案(50)所述识别的特征在于所述C型臂(60)相对于所述X射线波纹标记物(20)的所述X射线投影的姿态；

分析所述X射线图像内的所述波纹图案(50)以导出至少一个变换参数，所述至少一个变换参数定义所述C型臂(60)相对于所述X射线波纹标记物(20)的所述X射线投影的所述姿态；并且

基于所述至少一个变换参数来将所述C型臂(60)配准到所述X射线波纹标记物(20)。

2.根据权利要求1所述的C型臂配准系统，其中，所述波纹图案(50)包括：

多个同心波纹。

3.根据权利要求1所述的C型臂配准系统，其中，所述波纹图案(50)包括：

第一系列同心圆弧波纹。

4.根据权利要求3所述的C型臂配准系统，其中，所述波纹图案(50)还包括：

在频率、相位和幅值中的至少一项中与所述第一系列同心弧波纹不同的第二系列同心弧波纹。

5.根据权利要求1所述的C型臂配准系统，其中，所述X射线波纹标记物(20)还包括：

与所述波纹图案(50)轴向对齐的啁啾图案。

6.根据权利要求1所述的C型臂配准系统，其中，所述X射线波纹标记物(20)还包括：

与所述波纹图案(50)轴向对齐的界标图案。

7.根据权利要求1所述的C型臂配准系统，其中，所述C型臂配准控制器(70)被配置为分析所述X射线图像内的所述波纹图案(50)包括所述C型臂配准控制器(70)还被配置为：

根据对所述X射线图像内的所述波纹图案(50)的所述识别来计算至少一个波投影参数；并且

从对根据对所述X射线图像内的所述波纹图案(50)的所述识别而计算出的所述至少一个波投影参数来导出所述至少一个变换参数。

8.根据权利要求7所述的C型臂配准系统，其中，所述C型臂配准控制器(70)被配置为分析所述X射线图像内的所述波纹图案(50)还包括所述C型臂配准控制器(70)还被配置为：

将最小二乘法应用于从根据对所述X射线图像内的所述波纹图案(50)的所述识别而计算出的所述至少一个波投影参数导出的所述至少一个变换参数。

9.根据权利要求1所述的C型臂配准系统，其中，所述C型臂配准控制器(70)被配置为分析所述X射线图像内的所述波纹图案(50)包括所述C型臂配准控制器(70)还被配置为：

根据对所述X射线图像内的所述波纹图案(50)的所述识别来计算至少一个频率参数；

将快速傅立叶变换应用于根据对所述X射线图像内的所述波纹图案(50)的所述识别的对所述至少一个频率参数的所述计算；并且

根据将快速傅立叶变换应用到对根据对所述X射线图像内的所述波纹图案(50)的所述识别的对所述至少一个频率参数的计算来导出所述至少一个变换参数。

10.根据权利要求1所述的C型臂配准系统，其中，所述C型臂配准控制器(70)还被配置为从所述X射线图像中移除所述波纹图案(50)。