[发明专利]设置用于监控增材制造方法的相机的校准

权利要求书

1.一种用于校准相机（20）的方法，其中所述相机（20）被设置用于监控对象的以多个层涂覆材料（12）的增材制造，并且其中所述方法包括以下步骤：

a）提供所述相机（20）和提供用于执行所述对象的增材制造的机构，

b）借助于所述相机（20）记录制造中的或已经制成的对象的图像（21），

c）将所述记录的图像（21）与所述对象的图案（40）进行比较，

d）基于步骤c）中的比较确定校准函数，所述校准函数被设置用于：将所述记录的图像（21）转换成校正的图像，其中所述对象的所述校正的图像基本上对应于所述对象的图案（40），并且

e）借助于所述校准函数来校准所述相机（20）。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述图案（40）对应于所述对象的3D构造模型的截面轮廓。

3. 根据权利要求2所述的方法，其中所述截面轮廓作为层文件提供，特别是文件格式为“Common Layer Interface-CLI通用层接口”、“SLiCe-SLC”或“Parasolid”的层文件提供。

4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中将个体的图案（40）、尤其个体的截面轮廓分配给在制造方法中涂覆的每个层，并且其中所述记录的图像（21）与对应于所述涂覆的层的图案（40）进行比较。

5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中在记录所述图像（21）之后，将所述记录的图像（21）中的对象分割，并且然后将分割的图像与所述图案（40）进行比较。

6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述记录的图像（21）和所述图案（40）之间的比较包含所选择的参考点彼此间的间距、特别是欧几里得间距的相互比较。

7.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中将所述对象的轮廓用于在所述记录的图像（21）和所述图案（40）之间的比较。

8.根据权利要求7所述的方法，其中将两个频率分布的Kullback-Leibler散度用作为所述记录的图像（21）和所述图案（40）的相似度的度量，其中所述频率分布分别为描述所述对象的轮廓的相应的图像点距参考点（43）的间距。

9.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中借助于以下步骤确定所述校准函数：

dl）用初始化参数初始化所述校准函数，

d2）借助于所述校准函数将所述记录的图像（21）转换为校正的图像，

d3）确定所述校正的图像和所述图案（40）之间的偏差，

d4）改变所述校准函数的参数，以减少偏差，

d5）重复所述步骤d2）至d4）直到偏差小于预定的阈值。

10.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中在所述增材制造方法中

-要加工的材料以粉末状式的薄层施加在基板（11）上，

-在涂覆层后，粉末状的材料借助于激光辐射局部重熔，

-重熔的层在其固化后形成固体的材料层（151），并且

-一直重复该循环，直到要制造的对象达到其计划的形状和大小。

11.根据权利要求10所述的方法，其中在借助于所述激光辐射重熔之后并且在将粉末状的材料为下一材料层（151）施加之前记录根据所述方法的步骤b）的图像（21）。

12.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中在预设的时间点自动执行校准，并且在校准函数变化的情况下尤其通过警告提示通知用户。

13.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述校准函数存储在区块链中。