[发明专利]改进的温度测量

权利要求书

1.一种确定产品(4)的温度的方法，包括以下步骤：

a.确定作为至少一种产品的核心温度、表面温度和/或平均温度的函数的介电常数相关性ε(T)，并且存储在计算机装置中，

b.定位温度应确定在微波辐射测量天线和微波辐射测量接收器之间的产品，并且测量该产品的介电性能，

c.选择对应于其介电性能已被测量的产品的介电常数相关性ε(T)，以及

d.使用所述介电常数相关性ε(T)计算所述核心温度、表面温度和/或平均温度。

2.根据权利要求1所述的方法，其中在定位所述产品之后测量厚度。

3.根据权利要求1的方法，其中使用所述介电常数相关性(ε(T))和所述产品的厚度来计算温度。

4.根据权利要求1所述的方法，其中所测量的产品温度将是所述产品的平均温度和/或所述产品的表面温度和/或所述产品的核心温度。

5.根据权利要求1所述的方法，其中在所述计算机装置(5)中存储所述介电性能相对于温度的相关性(ε(T))，优选地作为表格或曲线。

6.根据前述权利要求中的一项所述的方法，其中所述温度在所述产品的体积上取平均。

7.根据前述权利要求中的一项所述的方法，其中所述产品在测量期间移动，优选地在传送带(2)上传送，沿着坡道(8)滑动和/或自由下落。

8.根据前述权利要求中的一项所述的方法，其中通过校准消除传送装置的影响。

9.一种加热产品的方法，其中利用根据前述权利要求中的一项所述的方法来确定温度。

10.根据权利要求6所述的方法，其中温度测量用于控制所述产品的加热。

11.根据权利要求7所述的方法，其中控制加热介质的温度和/或湿度和/或传热特性。

12.根据权利要求6至8所述的方法，其中产品以排(7)的形式被运输，其中每排包括多个产品(4)。

13.根据权利要求9所述的方法，其中所测量的温度在多个产品上取平均。

14.根据前述权利要求中的一项所述的方法，其中将所述温度测量用作初始和/或最终温度控制。