[发明专利]用于配置光谱测定装置的方法

权利要求书

1.一种用于借助于参考光谱测定装置来配置目标光谱测定装置的方法(1)，每个光谱测定装置包括光谱仪，每个光谱仪包括光源和检测器，所述检测器适于检测由所述源发射并由对象反射或透射的光辐射，由此生成光谱测量结果，所述光谱测量结果包括针对每个对象的一系列n个光谱和针对每个系列的光谱而测量的平均光谱，所述方法包括以下步骤：

-通过所述参考光谱仪获取(10)参考样品集合的参考光谱测量结果，并将所述光谱测量结果存储在参考数据库中；

-通过所述目标光谱仪获取(12)所述参考样品的子集的目标光谱测量结果，并将所述光谱测量结果存储在目标数据库中；

-从所述参考和所述目标光谱测量结果确定(14)每个参考样品的平均光谱s_S，包括用于确定所述目标光谱仪的光学传递函数的步骤、以及将所述光学传递函数应用于由所述参考光谱仪测量的每个平均光谱的步骤；

-针对每个平均光谱s_S确定(16)一系列n个光谱s_i(i＝1…n)；以及

-将每个参考样品的所述平均光谱和该系列n个光谱存储(18)在所述目标数据库中，

其中，所述确定步骤(14、16)借助于计算模块来实施。

2.根据权利要求1所述的方法(1)，其特征在于，所述方法(1)还包括以下步骤：针对所述参考样品的子集中的每个样品，使所确定的平均光谱s_S与由所述目标光谱仪测量的平均光谱之间的差最小化。

3.根据权利要求1或2所述的方法(1)，其特征在于，所述光学传递函数由所述目标光谱仪的至少一个技术特性确定。

4.根据权利要求3所述的方法(1)，其特征在于，所述至少一个技术特性选自灵敏度、光谱范围或分辨率。

5.根据前述权利要求之一所述的方法(1)，其特征在于，所述确定(16)一系列n个光谱的步骤包括以下步骤：

-从由所述目标光谱仪测量的光谱来估计协方差矩阵；以及

-从每个参考样品的所述协方差矩阵确定n个高斯向量。

6.根据权利要求5所述的方法(1)，其特征在于，从由所述目标光谱仪测量的光谱和与这些测量相关联的噪声来估计所述协方差矩阵。

7.一种光谱测定装置(100)，包括光谱仪(110)和电子模块(120)，所述光谱仪(110)包括光源和检测器，所述检测器适于检测由所述光源发射并由对象反射或透射的光辐射，所述光谱测定装置(100)根据基于前述权利要求中任一项所述的方法(1)来配置，其中，所述电子模块(120)适于存储所述数据库。

8.根据前述权利要求所述的光谱测定装置(100)，其特征在于，所述光谱仪(110)是小型化光谱仪。

9.根据权利要求7或8所述的光谱测定装置(100)，其特征在于，所述光谱仪(110)在介于400nm与2500nm之间的波长范围内操作。