[发明专利]测量装置、测量系统和测量方法

权利要求书

1.一种测量装置，包括：

发送器，被配置为通过电缆将包括入射波的电信号发送到一对探针中的一个探针，其中，所述电缆已经嵌入所述探针中；

接收器，被配置为通过所述电缆接收由一对所述探针中的所述一个探针对所述入射波的反射获得的反射波，以及已经通过一对所述探针之间的介质传输的透射波；以及

处理单元，被配置为获得对应于所述电信号通过所述电缆往复的时间的往复延迟时间，并基于所述往复延迟时间和对应于电磁波传播以及所述电信号通过所述介质和所述电缆传输的时间的传播传输时间来测量所述介质中包含的水分量。

2.根据权利要求1所述的测量装置，还包括被配置为将一对所述探针与所述介质隔离的外壳。

3.根据权利要求2所述的测量装置，其中，所述外壳由电磁波透射材料形成。

4.根据权利要求3所述的测量装置，还包括间隔物，所述间隔物被配置为在一对所述探针之间保持恒定的间隔。

5.根据权利要求4所述的测量装置，其中，所述间隔物由电磁波透射材料形成。

6.根据权利要求5所述的测量装置，其中，在一对所述探针之间延伸的外部边缘之间，靠近一对所述探针的天线部分的所述间隔物的外部边缘具有弧形。

7.根据权利要求6所述的测量装置，其中，从一对所述探针的所述天线部分到所述间隔物的下端的距离大于对应于所述天线部分之间的距离的天线间距离，

期望地，大于所述天线间距离的两倍，

更期望地，大于所述天线间距离的三倍，并且

小于所述探针的长度。

8.根据权利要求1所述的测量装置，还包括控制器，所述控制器被配置为执行用于使所述入射波被发送的控制、获得所述入射波和所述反射波的复振幅之间的比值作为反射系数的处理、以及获得所述入射波和所述透射波的复振幅之间的比值作为透射系数的处理，

其中，所述处理单元基于所述反射系数和所述透射系数获得所述往复延迟时间和所述传播传输时间。

9.根据权利要求8所述的测量装置，其中，所述控制器和所述处理单元设置在预定的半导体芯片中。

10.根据权利要求8所述的测量装置，其中，所述控制器设置在预定的半导体芯片中，并且

所述处理单元设置在不同于所述半导体芯片的半导体芯片中。

11.根据权利要求8所述的测量装置，还包括通信单元，所述通信单元被配置为将所述反射系数和所述透射系数无线地发送到所述处理单元。

12.根据权利要求8所述的测量装置，还包括定向耦合器，所述定向耦合器被配置为将通过所述电缆传输的电信号分离成所述入射波和所述反射波。

13.根据权利要求12所述的测量装置，其中，所述接收器包括

入射波接收器，被配置为接收所述入射波，

反射波接收器，被配置为接收所述反射波，以及

透射波接收器，被配置为接收所述透射波。