[发明专利]偏光板的液晶污点检查装置和偏光板的液晶污点检查方法

权利要求书

1.一种偏光板的液晶污点检查装置，包括：

表面光源；

第一偏振构件，所述第一偏振构件布置成被施加来自所述表面光源的光；

偏光板，所述偏光板布置成被施加透射通过所述第一偏振构件的光，并反射所施加的光；

第二偏振构件，所述第二偏振构件布置成被施加从所述偏光板反射的光；和

检查源，所述检查源布置成被施加透射通过所述第二偏振构件的光，并基于透射通过所述第二偏振构件的光来确定所述偏光板的液晶污点，其中

所述偏光板顺序地包括偏振器和四分之一波片，所述四分之一波片包括液晶膜，以及

透射通过所述第一偏振构件的光被施加至所述偏光板的所述四分之一波片。

2.根据权利要求1所述的偏光板的液晶污点检查装置，其中所述表面光源向所述第一偏振构件发射非偏振光。

3.根据权利要求2所述的偏光板的液晶污点检查装置，其中从所述表面光源发射的光相对于所述偏光板具有30°至60°的入射角。

4.根据权利要求1所述的偏光板的液晶污点检查装置，其中所述第一偏振构件具有与所述偏光板的所述偏振器垂直的吸收轴。

5.根据权利要求1所述的偏光板的液晶污点检查装置，其中所述偏光板还包括保护膜和离型膜，其中所述偏光板顺序地包括所述保护膜、所述偏振器、所述四分之一波片和所述离型膜。

6.根据权利要求1所述的偏光板的液晶污点检查装置，其中所述偏光板是用于有机发光显示装置的偏光板。

7.根据权利要求1所述的偏光板的液晶污点检查装置，其中所述液晶膜顺序地包括基础膜和液晶层。

8.根据权利要求7所述的偏光板的液晶污点检查装置，其中所述液晶层包含呈聚合状态的可聚合液晶化合物。

9.根据权利要求1所述的偏光板的液晶污点检查装置，其中透射通过所述第一偏振构件的光从所述偏光板的所述偏振器被反射。

10.根据权利要求1所述的偏光板的液晶污点检查装置，其中从所述偏光板反射并发射的光相对于所述偏光板具有30°至60°的反射角。

11.根据利要求1所述的偏光板的液晶污点检查装置，其中所述第二偏振构件具有与所述偏光板的所述偏振器平行的吸收轴。

12.一种偏光板的液晶污点检查方法，所述方法是使用根据权利要求1所述的偏光板的液晶污点检查装置的偏光板的液晶污点检查方法，所述方法包括以下步骤：

从表面光源发射光并使光顺序地透射通过第一偏振构件、偏光板和第二偏振构件；以及

基于透射通过所述第二偏振构件并施加至检查源的光来确定所述偏光板的液晶污点。

13.根据权利要求12所述的偏光板的液晶污点检查方法，其中施加至所述偏光板的光被反射。