[发明专利]用于可见图像感测和红外深度感测、或用于可见图像感测和红外图像感测的堆叠式电磁辐射传感器在审
申请号: | 202080038841.5 | 申请日: | 2020-06-26 |
公开(公告)号: | CN114556570A | 公开(公告)日: | 2022-05-27 |
发明(设计)人: | G·A·阿格拉诺斯;Z·M·贝利;A·G·帕坦提乌斯-亚伯拉罕;O·O·塞雷科;X·范;G·罗森布鲁姆;X·李;E·曼德利;B·比特根;邵宇川 | 申请(专利权)人: | 苹果公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H04N5/33;H04N9/04 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 郭星 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 可见 图像 红外 深度 堆叠 电磁辐射 传感器 | ||
1.一种传感器叠层,所述传感器叠层包括:
第一电磁辐射传感器,所述第一电磁辐射传感器具有用于将第一电磁辐射波长范围转换成第一组电信号的高量子效率;和
第二电磁辐射传感器,所述第二电磁辐射传感器位于所述第一电磁辐射传感器的视场中并且具有:
用于将第二电磁辐射波长范围转换成第二组电信号的高量子效率;和
用于将所述第一电磁辐射波长范围转换成所述第二组电信号的低量子效率;其中:
所述第一电磁辐射波长范围不与所述第二电磁辐射波长范围重叠;并且
所述第二电磁辐射传感器至少部分地透射所述第一电磁辐射波长范围。
2.根据权利要求1所述的传感器叠层,其中:
所述第一电磁辐射传感器或所述第二电磁辐射传感器中的至少一者包括:
半导体衬底,所述半导体衬底包括用于像素阵列的像素电路;
光敏材料,所述光敏材料沉积在所述半导体衬底上;和
用于所述像素阵列的所述像素电路与所述光敏材料之间的电连接阵列。
3.根据权利要求2所述的传感器叠层,其中所述光敏材料包括量子点膜。
4.根据权利要求2所述的传感器叠层,其中所述光敏材料包括有机材料。
5.根据权利要求2所述的传感器叠层,其中所述光敏材料包括Sb2Se(3-x)Te(x),其中x≥0。
6.根据权利要求2所述的传感器叠层,其中所述半导体衬底是硅衬底。
7.根据权利要求2所述的传感器叠层,其中所述电连接阵列中的电连接包括:
异质结光电二极管,所述异质结光电二极管形成于所述半导体衬底与所述光敏材料之间。
8.根据权利要求2所述的传感器叠层,其中所述半导体衬底、所述光敏材料和所述电连接阵列是所述第一电磁辐射传感器的一部分。
9.根据权利要求8所述的传感器叠层,其中所述第一电磁辐射传感器是红外(IR)传感器。
10.根据权利要求9所述的传感器叠层,其中所述IR传感器是IR图像传感器。
11.根据权利要求9所述的传感器叠层,其中所述IR传感器是IR深度传感器。
12.根据权利要求9所述的传感器叠层,其中所述第二电磁辐射传感器是可见光传感器。
13.根据权利要求12所述的传感器叠层,其中:
所述半导体衬底是第一半导体衬底;
用于所述像素阵列的所述像素电路是用于第一IR像素阵列的第一像素电路;
所述光敏材料包括第一光敏材料;
所述电连接阵列是第一电连接阵列;并且
所述可见光传感器包括:
第二半导体衬底,所述第二半导体衬底包括用于第二可见光像素阵列的第二像素电路;
第二光敏材料,所述第二光敏材料沉积在所述第二半导体衬底上;和
用于所述第二可见光像素阵列的所述第二像素电路与所述第二光敏材料之间的第二电连接阵列。
14.根据权利要求13所述的传感器叠层,其中:
所述第一光敏材料包括第一量子点膜,所述第一量子点膜具有用于将所述第一电磁辐射波长范围转换成所述第一组电信号的高量子效率;并且
所述第二光敏材料包括第二量子点膜,所述第二量子点膜具有用于将所述第二电磁辐射波长范围转换成所述第二组电信号的高量子效率。
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H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
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