[发明专利]设定X射线设备中的灯丝需求的方法、控制器、X射线设备、控制程序和存储介质在审

专利信息
申请号: 202080039012.9 申请日: 2020-03-06
公开(公告)号: CN114556513A 公开(公告)日: 2022-05-27
发明(设计)人: B·斯米特;A·C·威尔逊 申请(专利权)人: 尼康计量公众有限公司
主分类号: H01J35/06 分类号: H01J35/06;H05G1/34
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 周家新
地址: 比利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 设定 射线 设备 中的 灯丝 需求 方法 控制器 控制程序 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种设定X射线设备中的灯丝需求的方法,其中,

所述X射线设备具有:

灯丝,流经所述灯丝的流过的加热电流允许从所述灯丝热离子发射电子,

靶,其布置为能够根据从所述灯丝发射的电子产生X射线,

探测器,其布置为能够探测由所述靶产生的X射线,以形成X射线图像,以及

控制器,其中,所述控制器配置为能够:

执行所述X射线设备的测量操作,以测量X射线设备的参数;并且设定用于所述灯丝的灯丝需求,所述灯丝需求与流经所述灯丝的电流相关,

所述方法包括:

在对应于较低灯丝电流的第一值和对应于较高灯丝电流的第二值之间改变灯丝需求;

在所述第一值和所述第二值之间的一系列的灯丝需求的值处测量所述参数;

探测所测量的所述参数中的拐点;

确定与探测到的所述参数中的拐点相对应的灯丝需求;

基于所确定的与探测到的所述参数中的拐点对应的灯丝需求,来设定用于所述X射线设备的灯丝需求。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述控制器配置为能够基于由所述探测器对X射线的探测来测量所述参数。

3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述参数是图像质量的客观测量值。

4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述参数与从由所述探测器接收的X射线得出的X射线图像的锐度、噪声、动态范围、分辨率或对比度之一相关。

5.根据权利要求2所述的方法,其中,所述参数与从由所述探测器接收的X射线得出的X射线图像的对比噪声比相关。

6.根据权利要求2所述的方法,其中,所述参数与由所述探测器接收的X射线的强度相关。

7.根据权利要求2所述的方法,其中,所述参数是从由所述探测器接收的X射线得出的X射线图像中的对比噪声值的测量值。

8.根据权利要求1所述的方法,其中,所述参数与所述灯丝和所述靶之间的束电流、所述靶上的电子束点尺寸或所述靶上的电子束点强度相关。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的方法,其中,设定灯丝需求的步骤包括设定等于或以预定比例或绝对量低于与识别的拐点对应的灯丝需求的灯丝需求。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的方法,其中,设定灯丝需求的步骤包括设定以预定比例或绝对量高于与识别的拐点对应的灯丝需求的灯丝需求。

11.根据权利要求1至10中任一项所述的方法,其中,所述拐点的识别包括确定所测量的所述参数关于灯丝需求的斜率,并基于确定的斜率选择灯丝需求的值作为所述拐点的值。

12.根据权利要求11所述的方法,其中,所述拐点的识别包括确定在所述第一值和所述第二值之间的以下灯丝需求的值:在所述值处,所确定的所测量的所述参数的斜率减小到所测量的所述参数的最大斜率的设定百分比。

13.根据权利要求11所述的方法,其中,确定的点是在所述第一值和所述第二值之间按顺序第一个这样确定的值。

14.根据权利要求1至13中任一项所述的方法,其中,灯丝需求代表设定的灯丝操作电流。

15.根据权利要求1至14中任一项所述的方法,其中,灯丝需求代表设定的灯丝操作电压。

16.根据权利要求1至15中任一项所述的方法,其中,在所述灯丝的使用寿命内按间隔重复所述方法。

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