[发明专利]测量信号路径的泄漏特性

说明书

本发明提供了一种示例性方法，该示例性方法测量信号路径的泄漏特性。该示例性方法包括将电流施加到该信号路径上；基于由电流导致的信号路径上的电压的变化速率确定信号路径的寄生电容；在一时间段内将电压施加到信号路径上；以及在该时间段之后，基于寄生电容和由施加电压导致的信号路径上的电压变化速率确定泄漏特性。

技术领域

本说明书描述了被配置为测量信号路径的泄漏特性的示例性系统。

背景技术

测试系统被配置为测试电子设备和电子系统的操作。测试可包括通过测试通道向设备发送信号，并基于其响应确定设备如何对这些信号做出反应。反应将决定设备是否通过测试。

测试通道具有泄漏特性，如泄漏电流和泄漏电阻。这些泄漏特性可能影响测试。例如，一些数字设备的信号在断开时可以确定性地运行。此类信号中存在泄漏可能会迫使设备进入未知状态，从而对测试产生不利影响。因此，设备制造商可能希望在使用测试系统之前了解测试系统的泄漏规格。

电子设备也具有泄漏。设备制造商可能需要测量那些泄漏。

发明内容

示例性方法测量信号路径的泄漏特性。示例性方法包括：将电流施加到信号路径上；基于由电流导致的信号路径上的电压的变化速率确定信号路径的寄生电容；在一时间段内将电压施加到信号路径上；以及在该时间段之后，基于寄生电容和由施加电压导致的信号路径上的电压变化速率确定泄漏特性。示例性方法可包括下列特征中的一个或多个(单独地或组合地)。

泄漏特性可以包括泄漏电阻。泄漏特性可以包括泄漏电流。泄漏特性可以包括泄漏电阻和泄漏电流两者。

电压的每个变化速率可以由测试仪器确定，该测试仪器测量在信号路径上的不同电压处的时间。电压的每个变化速率可以由测试仪器确定，该测试仪器在不同时间测量信号路径上的电压。信号路径可以在该时间段之后浮动。

示例性方法可以包括确定信号路径上的电压的每个变化速率。信号路径可以包括测试设备内的导管。信号路径可以包括测试设备与由该测试设备测试的被测设备之间的接口。信号路径可以包括被测设备。

示例性系统被配置为测量信号路径的泄漏特性。示例性系统包括：电压源，该电压源连接到信号路径；电流源，该电流源连接到信号路径；电路，该电路用于按时间间隔测量信号路径上的电压；和控制系统，该控制系统被配置为(i)控制电流源以将电流施加到信号路径上，(ii)基于由电流导致的并由电路测量的信号路径上的电压的变化速率确定信号路径的寄生电容，(iii)控制电压源以在一时间段内将电压施加到信号路径上，以及(iv)在该时间段之后，基于由施加电压导致的信号路径上的电压变化速率确定泄漏特性。该示例性系统可包括下列特征中的一者或多者(单独地或组合地)。

泄漏特性可以包括泄漏电阻。泄漏特性可以包括泄漏电流。泄漏特性可以包括泄漏电阻和泄漏电流两者。

电路可以被配置为通过测量时间间隔内的电压差来测量信号路径上的电压的每个变化速率。电路可以被配置为测量在不同电压阈值之间的不同时间处的信号路径上的电压的每个变化速率。

信号路径上的电压可以在该时间段之后浮动。信号路径可以包括测试设备内的导管。信号路径可以包括测试设备与由该测试设备测试的被测设备之间的接口。信号路径可以包括被测设备。

本说明书(包括本发明内容部分)中所描述的特征中的任何两者或更多者可组合以形成本说明书中未具体描述的具体实施。

本说明书中所描述的测试系统和过程的至少一部分可通过在一个或多个处理设备上执行存储在一个或多个非暂态机器可读存储介质上的指令来配置或控制。非暂态机器可读存储介质的示例包括只读存储器、光盘驱动器、存储器磁盘驱动器和随机存取存储器。本说明书中所描述的测试系统和过程的至少一部分可使用由一个或多个处理设备和存储指令的存储器组成的计算系统来配置或控制，这些指令可由该一个或多个处理设备执行以进行各种控制操作。