[发明专利]制造PEEK-PEoEK共聚物的方法和由该方法获得的共聚物

权利要求书

1.一种PEEK-PEoEK共聚物，该共聚物包含相对于该PEEK-PEoEK共聚物中的重复单元的总摩尔数总共至少50mol.％的重复单元(R_PEEK)和重复单元(R_PEoEK)，其中：

(a)重复单元(R_PEEK)是具有式(A)的重复单元：

和

(b)重复单元(R_PEoEK)是具有式(B)的重复单元：

其中：

每个R¹和R²彼此相同或不同，在每次出现时独立地选自由以下组成的组：卤素、烷基、烯基、炔基、芳基、醚、硫醚、羧酸、酯、酰胺、酰亚胺、碱金属或碱土金属磺酸盐、烷基磺酸酯、碱金属或碱土金属膦酸盐、烷基膦酸酯、胺和季铵，

每个a和b独立地选自由范围从0至4的整数组成的组，并且

该PEEK-PEoEK共聚物包含摩尔比R_PEEK/R_PEoEK范围从95/5至70/30的重复单元R_PEEK和R_PEoEK，并且

该PEEK-PEoEK共聚物具有这样的微观结构，使得当在600与1000cm^-1之间以ATR模式在聚合物粉末上记录时，其FT-IR光谱满足以下不等式：

(i)其中是700cm^-1处的吸光度并且是704cm^-1处的吸光度；

(ii)其中是816cm^-1处的吸光度并且是835cm^-1处的吸光度；

(iii)其中是623cm^-1处的吸光度并且是557cm^-1处的吸光度；

(iv)其中是928cm^-1处的吸光度并且是924cm^-1处的吸光度；并且

该PEEK-PEoEK共聚物具有小于5ppm的钙(Ca)含量，该钙含量是通过用已知钙含量的标准物进行校准的电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)测量的。

2.如权利要求1所述的PEEK-PEoEK共聚物，其中，该重复单元(R_PEEK)是具有式(A-1)的重复单元：

3.如前述权利要求中任一项所述的PEEK-PEoEK共聚物，其中，该重复单元(R_PEoEK)是具有式(B-1)的重复单元：

4.如前述权利要求中任一项所述的PEEK-PEoEK共聚物，其呈现出小于1,000ppm的钠(Na)含量，该钠含量是如通过用已知钠含量的标准物进行校准的电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)测量的。

5.如前述权利要求中任一项所述的PEEK-PEoEK共聚物，其呈现出至少6ppm的磷(P)含量，该磷含量是如通过用已知磷含量的标准物进行校准的电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)测量的。

6.如前述权利要求中任一项所述的PEEK-PEoEK共聚物，其具有如通过TGA根据ASTMD3850测量的至少550℃的峰值降解温度。

7.一种聚合物组合物，该聚合物组合物包含：

(i)如权利要求1至6中任一项所述的PEEK-PEoEK共聚物，和

(ii)至少一种增强填料、至少一种添加剂、或二者的组合。

8.如权利要求7所述的聚合物组合物，该聚合物组合物包含基于该聚合物组合物的总重量至少10wt.％的该PEEK-PEoEK共聚物。