[发明专利]故障预兆诊断装置及其方法在审
申请号: | 202080044904.8 | 申请日: | 2020-04-24 |
公开(公告)号: | CN114026513A | 公开(公告)日: | 2022-02-08 |
发明(设计)人: | 藤原淳辅;铃木英明;河野敏明;小高俊之 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | G05B23/02 | 分类号: | G05B23/02 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 范胜杰;文志 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 故障 预兆 诊断 装置 及其 方法 | ||
1.一种故障预兆诊断装置,其使用通过多个传感器从设备取得的传感器数据来进行该设备的故障预兆诊断,其特征在于,具备:
加工传感器数据生成单元,其对所述传感器数据实施加工处理来生成加工传感器数据;
预处理条件生成单元,其生成用于提高所述多个传感器间的相关系数的针对所述加工处理的加工处理条件来作为预处理条件;
故障预兆诊断模型更新单元,其基于所述预处理条件来更新所述设备的故障预兆诊断模型;以及
诊断处理单元,其使用所述故障预兆诊断模型来进行所述设备的故障预兆诊断。
2.根据权利要求1所述的故障预兆诊断装置,其特征在于,
所述故障预兆诊断装置还具有传感器组合生成单元,该传感器组合生成单元基于所述传感器数据与所述加工传感器数据之间的相关系数来生成传感器的组合,
所述预处理条件生成单元针对所述传感器组合生成单元生成的所述传感器的每个组合生成所述预处理条件。
3.根据权利要求2所述的故障预兆诊断装置,其特征在于,
所述故障预兆诊断装置具有学习单元,该学习单元针对所述传感器的组合中的传感器数据,对于在所述预处理条件中反映了加工条件的加工传感器数据计算特定期间的平均值和标准偏差来作为正常模型,
所述诊断处理单元基于与所述正常模型的偏离度来进行异常判断。
4.根据权利要求1所述的故障预兆诊断装置,其特征在于,
所述诊断处理单元基于所述传感器数据与所述加工传感器数据的关系的变化来进行所述设备的故障预兆诊断。
5.根据权利要求1所述的故障预兆诊断装置,其特征在于,
所述预处理条件生成单元生成所述多个传感器之间的相关系数最高的加工处理条件来作为所述预处理条件。
6.根据权利要求1所述的故障预兆诊断装置,其特征在于,
所述加工传感器数据生成单元对所述传感器数据实施在过去方向和未来方向上使时间位移的加工处理从而生成所述加工传感器数据。
7.根据权利要求1所述的故障预兆诊断装置,其特征在于,
所述加工传感器数据生成单元对所述传感器数据实施以下加工处理从而生成所述加工传感器数据,所述加工处理计算所指定的窗口中的统计值。
8.一种使用了故障预兆诊断装置的故障预兆诊断方法,该故障预兆诊断装置使用通过多个传感器从设备取得的传感器数据来进行该设备的故障预兆诊断,其特征在于,
对所述传感器数据实施加工处理来生成加工传感器数据,
生成用于提高所述多个传感器间的相关系数的针对所述加工处理的加工处理条件来作为预处理条件,
基于所述预处理条件更新所述设备的故障预兆诊断模型,
使用所述故障预兆诊断模型进行所述设备的故障预兆诊断。
9.根据权利要求8所述的故障预兆诊断方法,其特征在于,
并且,根据所述传感器数据与所述加工传感器数据之间的相关系数来生成传感器的组合,
对于所生成的所述传感器的每个组合生成所述预处理条件。
10.根据权利要求9所述的故障预兆诊断方法,其特征在于,
并且,针对所述传感器的组合中的传感器数据,对在所述预处理条件中反映了加工条件的加工传感器数据计算特定期间的平均值和标准偏差来作为正常模型,
在所述设备的故障预兆诊断中,基于与所述正常模型的偏离度来进行异常判断。
11.根据权利要求8所述的故障预兆诊断方法,其特征在于,
基于所述传感器数据与所述加工传感器数据的关系的变化来进行所述设备的故障预兆诊断。
12.根据权利要求8所述的故障预兆诊断方法,其特征在于,
生成所述多个传感器间的相关系数最高的加工处理条件来作为所述预处理条件。
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