[发明专利]电子元件卷盘组、电子元件模块和电路有效

专利信息
申请号: 202080047479.8 申请日: 2020-06-15
公开(公告)号: CN114072339B 公开(公告)日: 2023-03-24
发明(设计)人: 大山学;为我井洋一 申请(专利权)人: 罗姆股份有限公司
主分类号: B65D73/02 分类号: B65D73/02;B65D73/00
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳;徐飞跃
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 电子元件 卷盘组 模块 电路
【说明书】:

本发明提供的电子元件卷盘组包括第一电子元件卷盘和第二电子元件卷盘。所述第一电子元件卷盘包括:分别具有比基准特性值大的规定范围的第一特性值的多个第一电子元件;将所述多个第一电子元件呈线状地进行收纳的第一电子元件包装体;卷绕所述第一电子元件包装体的第一卷盘主体;和显示所述第一特性值的第一显示部。所述第二电子元件卷盘包括:分别具有比所述基准特性值小的规定范围的第二特性值的多个第二电子元件;将所述多个第二电子元件呈线状地进行收纳的第二电子元件包装体;卷绕所述第二电子元件包装体的第二卷盘主体;和显示所述第二特性值的第二显示部。

技术领域

本发明涉及电子元件卷盘组、电子元件模块和电路。

背景技术

一直以来,电阻器、线圈或电容器等的电子元件,例如在制造后的检查中合格了的产品才会从工厂出售给使用者。在这些检查中,关于电子元件,根据作为基准的电特性值(基准特性值)来挑选出处于规定的允许误差范围(如果是电阻器,例如是自基准电阻值起的不足1%的范围)内的电子元件,并将其作为产品来出售。此时,以包含大量电子元件的电子元件卷盘的状态来出售。电子元件卷盘包括将大量电子元件呈线状地进行收纳的电子元件包装体;和将该电子元件包装体卷绕的卷盘主体(例如参照专利文献1)。另一方面,在上述检查中成为不合格的电子元件不被使用(例如被废弃),会使产品制造的成品率降低。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开2017-171393号公报。

发明内容

发明要解决的问题

鉴于上述情况,本发明的问题在于有效利用特性值超过了允许误差范围的电子元件,使电子元件制造的成品率提高。

用于解决问题的技术手段

通过本发明的一个方面提供的电子元件卷盘组包括第一电子元件卷盘和第二电子元件卷盘。所述第一电子元件卷盘包括:分别具有比基准特性值大的规定范围的第一特性值的多个第一电子元件;将所述多个第一电子元件呈线状地进行收纳的第一电子元件包装体;卷绕所述第一电子元件包装体的第一卷盘主体;和显示所述第一特性值的第一显示部。所述第二电子元件卷盘包括:分别具有比所述基准特性值小的规定范围的第二特性值的多个第二电子元件;将所述多个第二电子元件呈线状地进行收纳的第二电子元件包装体;卷绕所述第二电子元件包装体的第二卷盘主体;和显示所述第二特性值的第二显示部。

本发明的其他的特征和优点通过参照附图在以下进行的详细说明而能够更加明确。

附图说明

图1是表示第一实施方式的电子元件卷盘组的立体图。

图2是表示构成电子元件卷盘组的电子元件包装体的部分立体图。

图3是图2所示的电子元件包装体的部分平面图。

图4是沿着图3的IV-IV线的截面图。

图5是表示电子元件的一例的立体图。

图6是表示第二实施方式的电子元件模块的立体图。

图7是图6所示的电子元件模块的平面图。

图8是沿着图7的VIII-VIII线的截面图。

图9是沿着图7的IX-IX线的截面图。

图10是表示第三实施方式的电子元件模块的截面图。

图11是表示第四实施方式的电路的概略结构的模块图。

图12是表示电流检测用电阻的结构例的图。

图13是表示第五实施方式的电路的概略结构的模块图。

图14是表示第一和第二分压用电阻的结构例的图。

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