[发明专利]ODMR温度测量方法

权利要求书

1.一种基于无机荧光颗粒的光学检测磁共振来测量对象物的温度的方法，其特征在于，包括：

(a)对包含无机荧光颗粒的对象物照射彼此不同的频率的多种微波的步骤；

(b)分别用不同的光子计数器测量照射各种微波时的无机荧光颗粒的荧光强度的步骤；

(c)基于光子计数器间的脉冲测量数的误差来修正荧光强度的步骤；和

(d)基于得到的修正值来计算对象物的温度的步骤。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于：

所述无机荧光颗粒为含有NV中心的金刚石。

3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于：

所述多种微波为2～10种。

4.如权利要求1～3中任一项所述的方法，其特征在于：

所述多种微波为6种。

5.如权利要求1～4中任一项所述的方法，其特征在于：

在测量中追踪所述无机荧光颗粒。

6.如权利要求1～5中任一项所述的方法，其特征在于：

所述对象物为细胞、微生物或者类器官。

7.如权利要求1～6中任一项所述的方法，其特征在于：

测量所述对象物的温度的随时间变化。

8.如权利要求1～7中任一项所述的方法，其特征在于：

测量对所述对象物施与刺激时的温度变化。

9.如权利要求1～8中任一项所述的方法，其特征在于：

所述步骤(c)包括将光子计数器间的脉冲测量数的误差的预先测量的值从2个对应的荧光强度中的任一个荧光强度的测量值中减去，或者将光子计数器间的脉冲测量数的误差的预先测量的值加入到任一个荧光强度的测量值中的步骤。

10.如权利要求1～9中任一项所述的方法，其特征在于：

所述多种微波为6种，并且

所述步骤(d)包括将步骤(c)中得到的修正值代入下式，来计算发光中心处的温度变化(δT_NV)的步骤，

式中，α表示发光中心(NV)的温度依赖性，δω表示从微波的低频侧起第1个与第3个、或者第4个与第6个之间的频率差，I₁～I₆表示在6种微波照射下分别得到的修正值。

11.一种温度测量装置，其特征在于，包括：

(A)微波照射装置、(B)光子计数器、(C)修正荧光强度的运算部和(D)计算温度的运算部，

所述温度测量装置基于无机荧光颗粒的光学检测磁共振来测量对象物的温度。

12.如权利要求11所述的温度测量装置，其特征在于：

还包括(E)颗粒追踪系统。