[发明专利]核反应检测装置、方法以及程序

权利要求书

1.一种核反应检测装置，其特征在于，具备：

FPGA，其配置于粒子放射线入射的环境中，并形成有用户电路，该用户电路构成为在FPGA所包含的半导体元件中产生SEU时输出与正常时不同的值，其中，所述FPGA为现场可编程门阵列，所述SEU为单粒子翻转；以及

异常动作检测部，其根据来自所述FPGA的用户电路的输出值，检测在用户电路中发生了异常动作。

2.根据权利要求1所述的核反应检测装置，其特征在于，

所述用户电路具备：存储电路部；以及存储监视电路部，其以FPGA的时钟周期监视存储电路部中包含的各数据，检测任意一个数据的值有变化并输出检测结果。

3.根据权利要求2所述的核反应检测装置，其特征在于，

所述存储监视电路部具备：数据更新电路部，其使存储电路部的全部数据的值相同且以时钟周期发生变化；数据比较电路部，其对存储电路部的各数据进行比较；以及检测电路部，其基于数据比较电路部的比较结果来检测各数据的值变成不相同的情况并输出检测结果。

4.根据权利要求1～3中任一项所述的核反应检测装置，其特征在于，

所述核反应检测装置具备SEU截面计算部，该SEU截面计算部基于由异常动作检测部检测出的异常动作的发生次数计算出SEU截面。

5.根据权利要求1～3中任一项所述的核反应检测装置，其特征在于，

所述核反应检测装置具备粒子能量计算部，该粒子能量计算部基于由异常动作检测部测量出的异常动作的发生时刻，使用飞行时间法来计算出粒子能量。

6.根据权利要求1～5中任一项所述的核反应检测装置，其特征在于，

所述FPGA是SRAM型的FPGA。

7.一种核反应检测方法，其特征在于，具备如下步骤：

将形成有用户电路的FPGA配置于粒子放射线入射的环境中的步骤，其中，该用户电路构成为若在FPGA所包含的半导体元件中产生SEU则输出与正常时不同的值，所述FPGA为现场可编程门阵列，所述SEU为单粒子翻转；以及

异常动作检测步骤，根据来自所述FPGA的用户电路的输出值，检测在用户电路中发生了异常动作。

8.一种核反应检测程序，其特征在于，

使计算机作为权利要求1～6中任一项所述的核反应检测装置的异常动作检测部发挥功能。