[发明专利]用于标识物体的特征的偏振捕获设备

说明书

一种设备包括第一偏振图像传感器，其被配置为从第一视角捕获与物体相关的第一图像数据。该设备还包括第二偏振图像传感器，其被配置为从不同于第一视角的第二视角捕获与物体相关的第二图像数据。该设备还包括处理器，该处理器被配置为基于第一图像数据或第二图像数据中的至少一项，来获取物体的偏振信息或深度信息中的至少一项，并且基于偏振信息或深度信息中的至少一项提取物体的特征。

技术领域

本发明总体上涉及成像技术，并且更具体地涉及一种用于标识物体的特征的偏振捕获设备。

背景技术

物体在反射、衍射、透射、折射和/或散射入射光时可能会产生与物体的性质相关的偏振特征。因此，偏振信息可以用于确定物体的各种属性。偏振相机已经用于捕获包括偏振信息的物体的图像。

发明内容

本发明的一个方面提供了一种设备，该设备包括被配置为从第一视角捕获与物体相关的第一图像数据的第一偏振图像传感器。该设备还包括被配置为从不同于第一视角的第二视角捕获与物体相关的第二图像数据的第二偏振图像传感器。该设备还包括处理器，该处理器被配置为基于第一图像数据或第二图像数据中的至少一项，来获取物体的偏振信息或深度信息中的至少一项，并且基于偏振信息或深度信息中的至少一项来提取物体的特征。

在一些实施例中，第一偏振图像传感器或第二偏振图像传感器中的至少一项可以是近红外(“NIR”)偏振图像传感器，并且第一图像数据或第二图像数据中的至少一项可以是单色图像数据。

在一些实施例中，该设备还可以包括光源，其被配置为发射用以照射物体的NIR光。

在一些实施例中，偏振信息可以包括Strokes参数、线性偏振度(“DOLP”)或线性偏振角(“AOLP”)中的至少一项。

处理器可以被配置为基于Strokes参数、DOLP、AOLP或深度信息中的至少一项来提取物体的特征。

在一些实施例中，处理器还可以被配置为基于第一图像数据或第二图像数据中的至少一项计算一个或多个Stokes参数。

处理器还可以被配置为基于一个或多个Stokes参数计算AOLP或DOLP中的至少一项。

处理器还可以被配置为基于多个Strokes参数值、多个DOLP值、多个AOLP值或深度信息中的至少一项来构造图像。

在一些实施例中，处理器还可以被配置为确定物体的材料，并且标识物体的材料的声学属性。

在一些实施例中，处理器还可以被配置为使用偏振滤波器阵列来对第一图像数据和第二图像数据进行滤波，该偏振滤波器阵列包括与多个偏振取向相关联的多个偏振滤波器。

在一些实施例中，第一偏振图像传感器或第二偏振图像传感器中的至少一项可以包括：以堆叠配置布置的微透镜阵列、偏振器阵列和像素阵列。

本发明的另一方面提供了一种设备，该设备包括被配置为获取与物体相关的图像数据的偏振图像传感器，该物体被结构光照射。该设备还包括处理器，该处理器被配置为基于图像数据获取物体的偏振信息或深度信息中的至少一项，并且基于偏振信息或深度信息中的至少一项提取物体的特征。

在一些实施例中，该设备还可以包括被配置为发射结构光的光源。

在一些实施例中，偏振图像传感器可以是近红外偏振图像传感器，并且图像数据是单色图像数据。

在一些实施例中，处理器还可以被配置为确定物体的材料，并且标识物体的材料的声学属性。