[发明专利]控制装置以及控制方法

说明书

本发明在控制装置中降低与软错误的处理有关的、运算处理部的负荷。控制装置(100)包括运算处理部(10)、可编程电路部(20)及异常通知部(26)，可编程电路部(20)包括：保存部(21)，保存配置数据；异常检测部(22)，检测保存部(21)的软错误；以及异常记录部(24)，记录异常检测部(22)所检测到的软错误的信息，异常通知部(26)判定是否在异常记录部(24)记录有新的软错误的信息，在判定为记录有新的软错误的信息的情况下，向运算处理部(10)通知新的软错误的产生。

技术领域

本发明涉及一种控制装置以及控制方法。

背景技术

在生产现场所使用的机械或设备典型而言由可编程逻辑控制器(ProgrammableLogic Controller；以下称为PLC)等控制装置进行控制。典型而言，用户使用信息处理装置来制作由控制装置所执行的控制程序。将此种由用户自由设计、制作的程序也称为用户程序。

PLC包含中央处理装置(中央处理器，Central Processing Unit；以下也称为CPU)及输入输出(Input/Output，I/O)单元等功能单元。I/O单元进行自外部的开关或传感器的信号输入、以及向外部的继电器或致动器的信号输出。关于功能单元，有时使用现场可编程门阵列(Field-programmable gate array，FPGA)等可编程电路来实现。

可编程电路具有用户可独自构建电路的优点。另一方面，可编程电路具有下述缺点，即：有可能产生设于可编程电路的内部且保存配置数据(configuration data)的配置随机存取存储器(Configuration Random Access Memory，ConfigRAM)(以下也称为CRAM)的信息因辐射线等而变更的、软错误(soft error)。特别在利用静态随机存取存储器(Static random access memory，SRAM)作为CRAM的情况下，容易产生软错误。

CRAM中，构成功能单元的使用区域、与不构成功能单元的未使用区域混合存在，软错误有可能在使用区域及未使用区域的任一个产生。在使用区域中产生软错误的情况下，有可能控制装置的控制产生不良状况，相对于此，在未使用区域中产生软错误的情况下，控制装置的控制产生不良状况的可能性低。因此，专利文献1中公开了下述控制装置，即：基于映射信息来判定产生软错误的位置，在产生软错误的位置包含于功能部的未使用区域的情况下，继续运转而可防止不需要的运转停止。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本公开专利公报《日本专利特开2018-128820号公报》

发明内容

发明所要解决的问题

但是，所述那样的现有技术中，若一旦产生软错误，则每当FPGA部周期性地进行错误检测时，向处理器部发送打断通知。因此，处理器部需要每次中断通常的处理而进行软错误的分析。此时，由于以几毫秒(ms)～几十毫秒一次等高频率产生打断处理，因而有处理器部的控制周期产生波动，难以进行高精度的控制等问题。

本发明的一实施例的目的在于，在控制装置中降低与软错误的处理有关的、运算处理部的负荷。

解决问题的技术手段

为了解决所述问题，本发明的一方面的控制装置包括：运算处理部，可执行用户程序；可编程电路部，连接于所述运算处理部，构成功能部；以及异常通知部，所述可编程电路部包括：保存部，保存所述功能部的配置数据；异常检测部，检测所述保存部的软错误；以及异常记录部，记录所述异常检测部所检测到的所述软错误的信息，所述异常通知部判定在所述异常记录部是否记录有新的所述软错误的信息，在判定为记录有新的所述软错误的信息的情况下，向所述运算处理部通知所述新的软错误的产生。