[发明专利]测试座

权利要求书

1.一种测试座，设置于待测试元件与检测装置之间以用于将所述待测试元件的端子电连接至所述检测装置的端子，其特征在于，所述测试座包括：

多个导电部，其设置在对应于所述待测试元件的所述端子的位置处，多个导电颗粒在竖直方向上排列及对准于弹性绝缘材料中，以在所述竖直方向上呈现导电性；以及

绝缘部分，其围绕所述导电部配置以支撑所述导电部且使所述导电部彼此绝缘，

其中，每个所述导电颗粒包括：

筒状主体，其在一个方向上长且具有开放的上端及下端以及内部穿透空间；以及

突出部，其从所述筒状主体的端部向所述一个方向突出，

其中，所述导电颗粒的所述突出部具有能够插入至另一导电颗粒的所述筒状主体的所述穿透空间内的大小，使得在检测过程中压缩所述导电部时，所述导电颗粒中的所述突出部卡在另一导电颗粒上且不与所述另一导电颗粒分离。

2.如权利要求1所述的测试座，其中，所述突出部沿所述筒状主体的上端及下端的边缘自所述筒状主体的所述上端及所述下端突出。

3.如权利要求1所述的测试座，其中，所述筒状主体由金属薄片材料制成。

4.如权利要求1所述的测试座，其中，所述突出部由金属薄片材料制成，且弯曲成具有与所述筒状主体相同的曲率中心。

5.如权利要求3或权利要求4所述的测试座，其中，所述筒状主体及所述突出部由相同厚度的薄片材料制成。

6.如权利要求1所述的测试座，其中，所述突出部的末端为尖锐形状。

7.如权利要求6所述的测试座，其中，所述突出部具有自所述筒状主体朝向所述末端宽度逐渐减小的三角形形状。

8.如权利要求6所述的测试座，其中，所述突出部包括：

具有距所述筒状主体恒定宽度的第一部分；以及

具有自所述第一部分至所述末端减小的宽度的第二部分。

9.如权利要求6所述的测试座，其中，所述突出部包括：

具有自所述筒状主体减小的宽度的第三部分；

具有自所述第三部分增加的宽度的第四部分，以及

具有自所述第四部分至所述末端减小的宽度的第五部分。

10.如权利要求1所述的测试座，其中，

所述突出部的最大横截面面积小于所述筒状主体的开口面积。

11.如权利要求1所述的测试座，其中，所述筒状主体形成有穿过外侧表面及内侧表面的穿透孔，且所述穿透孔内填充有所述弹性绝缘材料。

12.如权利要求1所述的测试座，其中，在所述筒状主体的外侧表面及内侧表面中的至少一个中形成凹陷的凹部，且所述凹部内填充有所述弹性绝缘材料。

13.如权利要求1、权利要求11以及权利要求12中任一项所述的测试座，其中，在所述筒状主体的一侧形成有沿着竖直方向延伸的切开部。

14.如权利要求11所述的测试座，其中，所述切开部自所述筒状主体的所述上端延伸至所述下端。

15.如权利要求1所述的测试座，其中，所述弹性绝缘材料包括硅酮橡胶。