[发明专利]形成含有结晶化氧化铝的保护涂层的方法在审

专利信息
申请号: 202080061931.6 申请日: 2020-07-09
公开(公告)号: CN114341397A 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 大野贤一;埃里克·H·刘;苏克蒂·查特吉;尤里·梅尔尼克;托马斯·奈斯利;大卫·亚历山大·布里兹;兰斯·A·斯卡德尔;普拉文·K·纳万克尔 申请(专利权)人: 应用材料公司
主分类号: C23C16/40 分类号: C23C16/40;C23C16/455;C23C16/56;F01D5/28
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 徐金国;赵静
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 形成 含有 结晶 氧化铝 保护 涂层 方法
【权利要求书】:

1.一种在基板上形成保护涂层的方法,包含:

在第一原子层沉积(ALD)处理期间或第一化学气相沉积(CVD)处理期间,将所述基板暴露于铬前驱物和第一氧化剂,以在所述基板的表面上形成包含非晶氧化铬的氧化铬层;

在第一退火处理期间,加热含有包含所述非晶氧化铬的所述氧化铬层的所述基板,以将所述非晶氧化铬的至少一部分转换成结晶氧化铬;

在第二ALD处理期间或第二CVD处理期间,将所述基板暴露于铝前驱物和第二氧化剂,以在所述氧化铬层上形成包含非晶氧化铝的氧化铝层;及

在第二退火处理期间,加热含有设置在所述氧化铬层上的所述氧化铝层的所述基板,以将所述非晶氧化铝的至少一部分转换成结晶氧化铝。

2.如权利要求1所述的方法,其中所述第一退火处理包含将所述基板加热至约400℃至小于1,000℃的温度持续约0.5小时至约48小时。

3.如权利要求1所述的方法,其中所述氧化铬层被沉积至约10nm至约10,000nm的厚度。

4.如权利要求1所述的方法,其中所述基板在所述第一退火处理期间暴露于退火气体,且其中所述退火气体包含氮气(N2)、氧气(O2)、氮气与氧气的混合物、一氧化二氮、一氧化氮、空气、氩、氦、或前述物的任何混合物。

5.如权利要求1所述的方法,其中所述氧化铝层被沉积至约10nm至约10,000nm的厚度。

6.如权利要求1所述的方法,其中所述氧化铝层包含掺杂剂氧化铝,所述掺杂剂氧化铝含有铪、锆、钇、或前述物的任何组合。

7.如权利要求6所述的方法,其中所述氧化铝层包含:氧化铝与氧化铪、铪掺杂的氧化铝、铝酸铪中的一或多者的组合;氧化铝与氧化锆、锆掺杂的氧化铝、铝酸锆的组合;氧化铝与氧化钇、钇掺杂的氧化铝、铝酸钇的组合;前述物的掺杂剂;或前述物的任何组合。

8.如权利要求6所述的方法,其中所述氧化铝层具有约0.01at%至约8at%的掺杂剂浓度。

9.如权利要求1所述的方法,其中所述第二退火处理包含将所述基板加热至约400℃至小于1,000℃的温度持续约0.5小时至约48小时。

10.如权利要求1所述的方法,其中所述第二退火处理包含将所述基板加热至约450℃至约950℃的温度持续约0.8小时至约30小时。

11.如权利要求1所述的方法,其中所述基板在所述第二退火处理期间暴露于退火气体,且其中所述退火气体包含氮气(N2)、氧气(O2)、氮气与氧气的混合物、一氧化二氮、一氧化氮、空气、氩、氦、或前述物的任何混合物。

12.如权利要求1所述的方法,其中通过所述第一ALD处理沉积包含所述非晶氧化铬的所述氧化铬层,且通过所述第二ALD处理沉积包含所述非晶氧化铝的所述氧化铝层。

13.如权利要求12所述的方法,其中所述第一氧化剂和所述第二氧化剂各自独立地包含水、臭氧、氧气(O2)、原子氧、一氧化二氮、过氧化物、醇类、前述物的等离子体、或前述物的任何组合。

14.如权利要求1所述的方法,其中所述基板包含硅基板、氧化硅基板、聚合物或塑料基板、纳米结构装置、处理腔室内的表面或部件、工具的表面或部件、或前述物的任何组合。

15.如权利要求1所述的方法,其中所述基板包含航天部件。

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