[发明专利]用于分析粉末床增材制造中传感器数据的技术

权利要求书

1.一种用于分析传感器(6)的传感器数据的设备，所述传感器(6)设置在通过使用能量束(22)辐照原材料的层来制造三维工件(4)的装置(2)中，所述设备包括控制单元(8)，所述控制单元(8)被配置成：

接收所述传感器数据作为数据值的时间序列，其中，每个数据值表示在制造所述三维工件(4)期间所述装置(2)内的工艺条件；

接收针对所述三维工件(4)的规划数据，所述规划数据限定多个扫描向量(44)和沿所述扫描向量(44)对所述能量束(22)进行扫描所依据的顺序；

将所述时间序列的数据值与所述规划数据的所述扫描向量(44)的相应向量数据相关联，以形成针对相应扫描向量(44)的多个数据值集合；

基于所述规划数据限定所述多个扫描向量(44)中的至少两个扫描向量(44)的组，其中，所述组的扫描向量(44)满足预定的相似性准则；

将所述组中的第一扫描向量(44)的数据值集合与所述组中的至少一个第二扫描向量(44)的数据值集合进行比较，或将所述组中的第一扫描向量(44)的数据值集合与从所述组的至少两个第二扫描向量(44)推出的组合的数据值集合进行比较；以及

基于所述比较来确定在所述第一扫描向量(44)的位置处的所述工件(4)的质量度量。

2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述数据值是热辐射的强度值或温度值，所述热辐射是在其中所述能量束(22)照射到所述原材料上的熔化池中生成的。

3.根据权利要求1或2所述的设备，其中，所述设备被配置成在所述工件(4)的制造过程期间至少执行接收所述传感器数据、关联、比较和确定的步骤。

4.根据权利要求3所述的设备，其中，所述控制单元(8)还被配置成在所述制造过程期间基于所确定的质量度量来调整所述装置(2)的工艺参数。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的设备，其中，所述控制单元(8)还被配置成将时间数据与所述时间序列的数据值相关联。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的设备，其中，所述相似性准则考虑下述项中的至少一个：所述扫描向量(44)的长度相似性、所述扫描向量(44)的方向相似性以及所述扫描向量(44)是否是所述工件(4)的轮廓的一部分。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的设备，所述控制单元(8)还被配置成将所述组中的所述第一扫描向量(44)的数据值集合和与所述组相关联的预定的参考数据值集合进行比较。

8.根据权利要求1至6中任一项所述的设备，其中，所述控制单元(8)被配置成：

将所述组中的所述第一扫描向量(44)的数据值集合与所述组中的先前辐照的第二扫描向量(44)的数据值集合进行比较；以及

基于所述比较来确定至少一个差值，所述至少一个差值表示所述第一扫描向量(44)的数据值集合与所述第二扫描向量(44)的数据值集合之间的差。

9.根据权利要求8所述的设备，其中，所述控制单元(8)还被配置成：

将所述至少一个差值与存储的差值进行比较，所述存储的差值表示两个先前辐照的扫描向量(44)的数据值集合之间的差。