[发明专利]用于计量连续长形元件的方法和装置

权利要求书

1.一种用于计量连续长形元件(900)的方法，所述方法包括：

-沿着第一道(110)以推进方向(100)推进所述连续长形元件(900)，以便以馈送速度将所述连续长形元件(900)连续馈送到馈送点(A)；

-在沿所述第一道(110)的检测点(R)处，连续地光学检测与所述连续长形元件(900)在基本垂直于所述推进方向(100)的平面上的截面(200)有关的几何信息；

-基于所述几何信息，连续计算代表所述截面(200)的面积延伸的值；以及

-基于代表面积延伸的所述值和在所述馈送点(A)处的所述连续长形元件(900)的馈送流率的参考值，连续调整所述馈送速度。

2.根据权利要求1所述的方法，包括基于馈送流率的所述参考值和代表所述截面(200)的面积延伸的所述值之间的比率，连续计算馈送速度的理论值，其中，连续调整所述馈送速度包括将所述馈送速度设置为等于所述理论值，并且其中，所述馈送点(A)位于所述第一道(110)的出口处。

3.根据前述权利要求中任一项所述的方法，包括：优选地基于所述馈送速度，计算所述截面(200)从所述检测点(R)到所述馈送点(A)所花费的时间延迟，并且其中，还基于所述时间延迟连续调整所述馈送速度。

4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，检测所述几何信息包括检测所述截面(200)的轮廓的至少第一部分(11)相对于参考高度(500)的高程轮廓，其中，所述截面(200)的轮廓的所述第一部分(11)属于所述连续长形元件(900)的第一表面(10)，其中，轮廓的所述第一部分(11)是连续的部分，并且其中，轮廓的所述第一部分(11)至少延伸轮廓的整个延展的三分之一。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，仅检测截面的轮廓的所述第一部分(11)的所述高程轮廓，其中，连续计算代表所述截面(200)的面积延伸的所述值包括计算截面(200)的轮廓的第一部分(11)的所述高程轮廓所针对的面积，其中，推进连续长形元件并使得所述连续长形元件的表面与运输元件(5)的表面(501)接触，其中，运输元件(5)的所述表面(501)的高度与所述参考高度(500)相对应。

6.根据权利要求4所述的方法，其中，检测所述几何信息包括检测所述截面(200)的轮廓的第二部分相对于相应的参考高度的高程轮廓，其中，所述截面(200)的轮廓的所述第二部分属于所述连续长形元件(900)的第二表面，其中，所述第二表面相对于所述第一表面(10)被布置在所述连续长形元件(900)的基本相反的一侧，其中，连续长形元件(900)在所述检测点(R)处悬浮在空气中，并且其中，确定针对所述截面(200)的轮廓的所述第一部分(11)和第二部分的高程轮廓的相同的参考高度。

7.根据权利要求5或6所述的方法，其中，所述截面(200)的轮廓的所述第一部分(11)、以及可能地、所述第二部分基本上沿着所述连续长形元件的整个延伸部、沿着垂直于所述推进方向(100)的方向延展，并且其中，检测所述截面(200)的轮廓的所述第一部分(11)和/或第二部分的高程轮廓包括：

-用线性激光束(400)分别照亮轮廓的第一部分(11)和/或第二部分；

-获取连续长形元件的表面的矩阵部分的矩阵图像，所述矩阵部分包括轮廓的第一部分(11)和/或第二部分，其中，矩阵图像包括分别由轮廓的第一部分(11)和/或第二部分反射的激光线；

-通过对反射的激光线进行三角测量处理，计算所述高程轮廓。